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一种集成芯片的故障检测方法及系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511235431.0
申请日：
2025-09-01
公开(公告)号：
CN120742077A
公开(公告)日：
2025-10-03
发明(设计)人：
夏俊杰 杨鑫
申请人：
深圳超盈智能科技有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙岗区坂田街道象角塘社区中浩路1号美竹巷润昌工业园厂区厂房A栋五层
IPC主分类号：
G01R31/3185
IPC分类号：
G01R31/319
代理机构：
深圳卓正专利代理事务所(普通合伙) 44388
代理人：
吴思莹
法律状态：
公开
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-10-03 公开 公开
2025-11-07 著录事项变更 著录事项变更IPC(主分类):G01R 31/3185变更事项:申请人变更前:深圳超盈智能科技有限公司变更后:深圳科摩思智能科技有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市龙岗区坂田街道象角塘社区中浩路1号美竹巷润昌工业园厂区厂房A栋五层变更后:518100 广东省深圳市龙岗区坂田街道象角塘社区中浩路1号美竹巷润昌工业园厂区厂房A栋五层
2025-11-18 授权 授权
2025-10-24 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/3185申请日:20250901
共 50 条
[1]
一种集成芯片的故障检测方法及系统 [P]. 
夏俊杰 ;
杨鑫 .
中国专利 :CN120742077B ,2025-11-18
[2]
一种ADC芯片故障检测方法及系统 [P]. 
段尚琪 ;
袁峻 ;
胡昌斌 ;
向映宇 ;
关又综 ;
王家云 ;
张栋辉 ;
宋庆 .
中国专利 :CN117517925A ,2024-02-06
[3]
芯片的故障检测方法、装置及芯片 [P]. 
乔延博 .
中国专利 :CN118150981A ,2024-06-07
[4]
检测集成芯片及检测方法 [P]. 
王战会 ;
陈坦 .
中国专利 :CN102580797A ,2012-07-18
[5]
芯片的故障检测方法和系统 [P]. 
古乐 ;
樊博麟 ;
刘华哲 .
中国专利 :CN120385905A ,2025-07-29
[6]
一种芯片故障检测方法及装置 [P]. 
向柏澄 ;
陈军健 ;
陶伟 ;
蔡田田 ;
李卓环 ;
李俊业 ;
邵杰 .
中国专利 :CN119293437A ,2025-01-10
[7]
一种芯片故障检测方法及装置 [P]. 
邓志吉 .
中国专利 :CN102288890B ,2011-12-21
[8]
芯片的故障检测方法 [P]. 
黄隆霄 ;
白帆 ;
陈国新 ;
谭杰 ;
王琴芳 .
中国专利 :CN119785856A ,2025-04-08
[9]
一种集成芯片故障检测装置 [P]. 
何露 .
中国专利 :CN208766277U ,2019-04-19
[10]
一种SIP芯片故障检测系统及检测方法 [P]. 
王旭 ;
朱天成 ;
候俊马 ;
仇旭东 ;
李鑫 ;
张楠 .
中国专利 :CN108226749A ,2018-06-29
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