测量方法、测量装置、测量系统以及测量程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510340843.4

申请日：

2025-03-21

公开(公告)号：

CN120702391A

公开(公告)日：

2025-09-26

发明(设计)人：

小林祥宏

申请人：

精工爱普生株式会社

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01B21/02

IPC分类号：

G01B21/32 G01P15/18

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

刘畅;马建军

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-26	公开	公开
2025-10-17	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 21/02申请日:20250321

共 50 条

[1]

测量方法、测量装置、测量系统以及测量程序产品 [P].

小林祥宏 .

日本专利 :CN120703401A ,2025-09-26

[2]

测量方法、测量装置、测量系统以及测量程序 [P].

小林祥宏 .

中国专利 :CN115541151A ,2022-12-30

[3]

测量系统、测量方法以及测量程序产品 [P].

神内拓真 ;

武田裕 ;

中村博昭 ;

上北将广 .

日本专利 :CN121140708A ,2025-12-16

[4]

测量装置、测量系统、测量程序以及测量方法 [P].

渡边义浩 ;

石川正俊 ;

加地宏乃介 .

中国专利 :CN112771367A ,2021-05-07

[5]

测量系统、车辆、测量装置、测量程序以及测量方法 [P].

妹尾拓 ;

平野正浩 ;

岸则政 ;

石川正俊 ;

铃木健二 ;

潘尧 ;

仲笑笑 ;

丸山浩史 .

中国专利 :CN115135959A ,2022-09-30

[6]

测量系统、测量方法以及测量程序 [P].

村云泰 ;

和气千大 ;

加藤宏记 .

中国专利 :CN115427756A ,2022-12-02

[7]

测量系统、测量方法、以及测量程序 [P].

平野正浩 ;

妹尾拓 ;

岸则政 ;

石川正俊 .

中国专利 :CN113167579A ,2021-07-23

[8]

测量装置、测量方法、以及测量程序 [P].

野口真伍 ;

木代雅巳 .

中国专利 :CN107278265A ,2017-10-20

[9]

测量装置、测量系统、测量方法以及程序 [P].

水野诚一 .

中国专利 :CN110192229A ,2019-08-30

[10]

测量装置、测量程序及测量方法 [P].

笠健太郎 .

中国专利 :CN115493498A ,2022-12-20

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