测试处理方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410351161.9

申请日：

2024-03-26

公开(公告)号：

CN120743735A

公开(公告)日：

2025-10-03

发明(设计)人：

招蕴豪

申请人：

腾讯科技（北京）有限公司

申请人地址：

100080 北京市海淀区海淀大街38号银科大厦16层1601－1608室

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

贾允

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-03	公开	公开

共 50 条

[1]

测试处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

卢振平 .

中国专利 :CN119493728A ,2025-02-21

[2]

测试处理方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

王玲 .

中国专利 :CN117687919A ,2024-03-12

[3]

测试处理方法、电子设备及存储介质 [P].

王华斌 ;

姚黎明 ;

戴力佳 ;

时园美 ;

姚晓春 .

中国专利 :CN119292959B ,2025-03-18

[4]

测试处理方法、电子设备及存储介质 [P].

王华斌 ;

姚黎明 ;

戴力佳 ;

时园美 ;

姚晓春 .

中国专利 :CN119292959A ,2025-01-10

[5]

测试处理方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张浩 ;

代闯仁 ;

尹飞 .

中国专利 :CN111949510A ,2020-11-17

[6]

测试处理方法、装置、电子设备、存储介质及产品 [P].

阮文静 .

中国专利 :CN121125542A ,2025-12-12

[7]

测试处理方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张浩 ;

代闯仁 ;

尹飞 .

中国专利 :CN111949510B ,2024-05-14

[8]

测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

杨锋 .

中国专利 :CN113553257A ,2021-10-26

[9]

测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

杨锋 .

中国专利 :CN113553257B ,2024-04-26

[10]

测试处理方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

杨东平 ;

马婕 ;

贾永洁 ;

顾旺军 ;

罗金梅 ;

李娜 ;

余永彬 ;

王建军 ;

付磊 .

中国专利 :CN114281663A ,2022-04-05

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