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硬件在环测试装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510992954.3
申请日
:
2025-07-18
公开(公告)号
:
CN120779919A
公开(公告)日
:
2025-10-14
发明(设计)人
:
吴婷
王云伟
莫盛基
成亮
邓生亮
俞冠中
申请人
:
国核自仪系统工程有限公司
申请人地址
:
200241 上海市闵行区江川东路428号
IPC主分类号
:
G05B23/02
IPC分类号
:
代理机构
:
上海弼兴律师事务所 31283
代理人
:
凌海容;徐芙姗
法律状态
:
公开
国省代码
:
上海市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-10-14
公开
公开
2025-10-31
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G05B 23/02申请日:20250718
共 50 条
[1]
硬件在环测试装置
[P].
孔帅
论文数:
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机构:
北京经纬恒润科技股份有限公司
北京经纬恒润科技股份有限公司
孔帅
;
庞启春
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机构:
北京经纬恒润科技股份有限公司
北京经纬恒润科技股份有限公司
庞启春
;
吕志威
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机构:
北京经纬恒润科技股份有限公司
北京经纬恒润科技股份有限公司
吕志威
;
张言方
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机构:
北京经纬恒润科技股份有限公司
北京经纬恒润科技股份有限公司
张言方
.
中国专利
:CN222509765U
,2025-02-18
[2]
硬件在环测试装置与测试系统
[P].
请求不公布姓名
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机构:
昆易电子科技(上海)有限公司
昆易电子科技(上海)有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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机构:
昆易电子科技(上海)有限公司
昆易电子科技(上海)有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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机构:
昆易电子科技(上海)有限公司
昆易电子科技(上海)有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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机构:
昆易电子科技(上海)有限公司
昆易电子科技(上海)有限公司
请求不公布姓名
;
叶周青
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机构:
昆易电子科技(上海)有限公司
昆易电子科技(上海)有限公司
叶周青
;
孙明明
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机构:
昆易电子科技(上海)有限公司
昆易电子科技(上海)有限公司
孙明明
;
陈奇
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机构:
昆易电子科技(上海)有限公司
昆易电子科技(上海)有限公司
陈奇
.
中国专利
:CN221040008U
,2024-05-28
[3]
硬件在环测试装置和系统
[P].
万吉奎
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机构:
宁德时代(上海)智能科技有限公司
宁德时代(上海)智能科技有限公司
万吉奎
;
孙佳
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机构:
宁德时代(上海)智能科技有限公司
宁德时代(上海)智能科技有限公司
孙佳
;
施尚慧
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机构:
宁德时代(上海)智能科技有限公司
宁德时代(上海)智能科技有限公司
施尚慧
.
中国专利
:CN221926604U
,2024-10-29
[4]
一种硬件在环测试装置
[P].
李通通
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机构:
壹森特(苏州)新能源科技有限公司
壹森特(苏州)新能源科技有限公司
李通通
;
张国路
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机构:
壹森特(苏州)新能源科技有限公司
壹森特(苏州)新能源科技有限公司
张国路
.
中国专利
:CN118466462A
,2024-08-09
[5]
采集模块集成装置、硬件在环测试装置、信号传送装置和硬件在环测试系统
[P].
周驰
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机构:
江苏徐工工程机械研究院有限公司
江苏徐工工程机械研究院有限公司
周驰
;
刘天翼
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机构:
江苏徐工工程机械研究院有限公司
江苏徐工工程机械研究院有限公司
刘天翼
;
马列斯
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机构:
江苏徐工工程机械研究院有限公司
江苏徐工工程机械研究院有限公司
马列斯
;
李亮
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机构:
江苏徐工工程机械研究院有限公司
江苏徐工工程机械研究院有限公司
李亮
;
江峰
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机构:
江苏徐工工程机械研究院有限公司
江苏徐工工程机械研究院有限公司
江峰
.
中国专利
:CN119200572A
,2024-12-27
[6]
测试装置与硬件在环仿真器
[P].
S·科埃勒
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S·科埃勒
;
S·克里贝尔
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0
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0
S·克里贝尔
.
中国专利
:CN202183045U
,2012-04-04
[7]
汽车硬件在环自动测试装置
[P].
孙佳
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孙佳
;
杨静
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杨静
;
朱效方
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朱效方
;
张久龄
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0
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张久龄
.
中国专利
:CN202548642U
,2012-11-21
[8]
硬件在环测试方法、测试装置、测试系统和可读存储介质
[P].
黄礼
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黄礼
;
钟日敏
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钟日敏
;
邵杰
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邵杰
;
杨一琴
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0
杨一琴
;
陈显福
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0
陈显福
.
中国专利
:CN113589787A
,2021-11-02
[9]
硬件在环测试系统及硬件在环测试方法
[P].
柳超
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机构:
宁德时代(上海)智能科技有限公司
宁德时代(上海)智能科技有限公司
柳超
.
中国专利
:CN117806274A
,2024-04-02
[10]
硬件在环测试系统及硬件在环测试方法
[P].
柳超
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0
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0
机构:
宁德时代(上海)智能科技有限公司
宁德时代(上海)智能科技有限公司
柳超
.
中国专利
:CN117806274B
,2025-02-18
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