测量装置和定位设备和用于对具有太赫兹装置的测量装置进行相对定位的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202480005726.6

申请日：

2024-01-17

公开(公告)号：

CN120769971A

公开(公告)日：

2025-10-10

发明(设计)人：

吕迪格·马斯特尔安德烈亚斯·戈多尔

申请人：

赫尔穆特费舍尔股份有限公司电子及测量技术研究所

申请人地址：

德国辛德尔芬根

IPC主分类号：

G01B11/06

IPC分类号：

代理机构：

北京知帆远景知识产权代理有限公司 11890

代理人：

苏志莲

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-10	公开	公开
2025-10-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/06申请日:20240117

共 50 条

[1]

太赫兹测量装置和操作太赫兹测量装置的方法 [P].

吕迪格尔·梅斯特尔 ;

拉斯-克里斯蒂安·安克拉姆 .

德国专利 :CN112969933B ,2024-07-23

[2]

太赫兹测量装置和操作太赫兹测量装置的方法 [P].

吕迪格尔·梅斯特尔 ;

拉斯-克里斯蒂安·安克拉姆 .

中国专利 :CN112969933A ,2021-06-15

[3]

用于对环境进行光学扫描和测量的装置 [P].

安德烈亚斯·迪特 ;

马丁·奥西格 .

中国专利 :CN103154770B ,2013-06-12

[4]

定位测量装置和定位测量方法 [P].

黄鹏辉 ;

宋晓雷 ;

吕荔 ;

蔡莹 ;

何伟丰 ;

廖克强 ;

陈章勇 ;

熊林 ;

王丽玮 ;

牛海清 .

中国专利 :CN107255463A ,2017-10-17

[5]

具有测量装置的接触装置和用于测量接触状态的方法 [P].

S.基普 .

中国专利 :CN114089225A ,2022-02-25

[6]

用于测定测试对象的太赫兹测量设备和方法 [P].

D·施蒂希 .

中国专利 :CN105765340B ,2016-07-13

[7]

用于对环境进行光学扫描和测量的装置 [P].

马丁·奥西格 ;

本亚明·卢茨 .

中国专利 :CN103119466B ,2013-05-22

[8]

用于对环境进行光学扫描和测量的装置 [P].

亚历山大·格雷纳 ;

菲利普·舒曼 .

中国专利 :CN103119465A ,2013-05-22

[9]

用于对环境进行光学扫描和测量的装置 [P].

阿克塞尔·鲁兰 ;

莱因哈德·贝克 ;

贝恩德-迪特马尔·贝克 .

中国专利 :CN103119464A ,2013-05-22

[10]

用于对工件进行几何测量的装置和方法 [P].

伊万·巴沙尔 .

中国专利 :CN101952685B ,2011-01-19

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