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測定ユニット、測定機、測定方法および安全性評価方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20240185383
申请日
:
2024-10-21
公开(公告)号
:
JP2025141772A
公开(公告)日
:
2025-09-29
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01M10/48
IPC分类号
:
H01M10/04
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
荷重測定ユニットおよび荷重測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7052674B2
,2022-04-12
[2]
測定機器および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6548822B2
,2019-07-24
[3]
測定機器および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2018529854A
,2018-10-11
[4]
測定基板および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6942224B2
,2021-09-29
[5]
測定基板および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2019504477A
,2019-02-14
[6]
測定素子、および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6911409B2
,2021-07-28
[7]
画像測定機および画像測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7303074B2
,2023-07-04
[8]
測定ユニット、射出成形装置及び測定方法[ja]
[P].
TAKAMI RYO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOSHIBA CORP
TOSHIBA CORP
TAKAMI RYO
;
AZUMA SHINYA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOSHIBA CORP
TOSHIBA CORP
AZUMA SHINYA
;
SAYAMA SATOSHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOSHIBA CORP
TOSHIBA CORP
SAYAMA SATOSHI
.
日本专利
:JP2024135201A
,2024-10-04
[9]
測定ユニット、測定ユニットの製造方法及び生体試料測定方法[ja]
[P].
SHIKIMURA KIMIKO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HAMAMATSU PHOTONICS KK
HAMAMATSU PHOTONICS KK
SHIKIMURA KIMIKO
.
日本专利
:JP2024159476A
,2024-11-08
[10]
測定システム、測定管理装置、測定機器、および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6403957B2
,2018-10-10
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