一种波导成品光学性能测试治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202423032218.3

申请日：

2024-12-09

公开(公告)号：

CN223400583U

公开(公告)日：

2025-09-30

发明(设计)人：

安志民冒新宇孟祥峰

申请人：

北京至格科技有限公司

申请人地址：

102308 北京市门头沟区石龙工业区桥园路1号1幢1层102室

IPC主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

代理机构：

北京汇信合知识产权代理有限公司 11335

代理人：

陈圣清

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-30	授权	授权

共 50 条

[1]

一种波导成品性能测试辅助设备 [P].

安志民 ;

冒新宇 ;

孟祥峰 .

中国专利 :CN223400582U ,2025-09-30

[2]

一种光学性能检测治具 [P].

潘家鑫 ;

沈渊 ;

曹建 ;

周鹏 ;

曹静 ;

徐宇 .

中国专利 :CN222087293U ,2024-11-29

[3]

一种成品测试治具 [P].

齐进军 .

中国专利 :CN210604700U ,2020-05-22

[4]

一种多用式成品测试治具 [P].

周悦 .

中国专利 :CN205910307U ,2017-01-25

[5]

一种烫斗成品测试治具 [P].

黄鑫鹏 .

中国专利 :CN215180540U ,2021-12-14

[6]

一种电源半成品测试治具 [P].

周悦 .

中国专利 :CN205898988U ,2017-01-18

[7]

波导片测试治具 [P].

赵云阳 ;

张元蕾 ;

郑昱 .

中国专利 :CN223431499U ,2025-10-14

[8]

一种光学晶圆光学性能检测治具 [P].

孙逸享 ;

冒新宇 .

中国专利 :CN222579580U ,2025-03-07

[9]

一种半成品测试治具 [P].

夏文峰 .

中国专利 :CN208026231U ,2018-10-30

[10]

一种光学测试治具 [P].

刘攀 .

中国专利 :CN205175665U ,2016-04-20

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