光学测试装置以及操作光学测试装置的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510333178.6

申请日：

2025-03-20

公开(公告)号：

CN120702722A

公开(公告)日：

2025-09-26

发明(设计)人：

斯特凡·克雷约翰内斯·欣里希斯扬-欣里希·埃格斯莫希特·亚达夫克谢尼娅·杜吉诺娃

申请人：

全欧光学公司

申请人地址：

德国韦德尔市

IPC主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

代理机构：

上海智信专利代理有限公司 31002

代理人：

宋丽荣

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-26	公开	公开
2025-10-17	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20250320

共 50 条

[1]

光学测试装置及光学测试方法 [P].

肖冯俊树 .

中国专利 :CN110879135B ,2020-03-13

[2]

光学测试装置 [P].

奥托·布基 .

德国专利 :CN117589079A ,2024-02-23

[3]

光学测试装置 [P].

张跃兴 .

中国专利 :CN216247126U ,2022-04-08

[4]

光学测试装置 [P].

张维维 .

中国专利 :CN108562540A ,2018-09-21

[5]

光学测试装置 [P].

吴昊 ;

黄婕妤 ;

于洪俊 .

中国专利 :CN101825781A ,2010-09-08

[6]

光学测试装置 [P].

蒋锡煜 ;

刘丰 .

中国专利 :CN202661384U ,2013-01-09

[7]

光学性能测试装置 [P].

韦怡 ;

周奇群 ;

张海裕 ;

陈嘉伟 ;

周彦汝 .

中国专利 :CN211291945U ,2020-08-18

[8]

光学元件测试装置 [P].

刘延文 ;

陈家兴 .

中国专利 :CN209894449U ,2020-01-03

[9]

光学件测试装置 [P].

刘军 ;

郑昱 .

中国专利 :CN111044263A ,2020-04-21

[10]

用于光学测试件的测试装置及用于测试光学测试件的方法 [P].

艾可·鲁普雷希特 .

德国专利 :CN119492518A ,2025-02-21

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