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测试方法、电子设备和存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511007688.0
申请日：
2025-07-22
公开(公告)号：
CN120523742B
公开(公告)日：
2025-10-10
发明(设计)人：
郭晓宇 郭文潇 徐重阳
申请人：
苏州元脑智能科技有限公司
申请人地址：
215000 江苏省苏州市吴中经济开发区综保区经一路1号8幢
IPC主分类号：
G06F11/3668
IPC分类号：
G06F11/3698
代理机构：
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人：
吴梦圆
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-09 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20250722
2025-10-10 授权 授权
2025-08-22 公开 公开
共 50 条
[1]
测试方法、电子设备和存储介质 [P]. 
郭晓宇 ;
郭文潇 ;
徐重阳 .
中国专利 :CN120523742A ,2025-08-22
[2]
测试设备的处理方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
曾柏颖 ;
金胜 .
中国专利 :CN114647544A ,2022-06-21
[3]
电表的测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
吕燕顺 ;
陈卫刚 ;
吴胜 ;
张虔 ;
贾罗 ;
吕卓伦 .
中国专利 :CN113791373A ,2021-12-14
[4]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
顾振飞 .
中国专利 :CN112306880A ,2021-02-02
[5]
测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
倪丙庆 .
中国专利 :CN113190451B ,2025-03-21
[6]
测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
倪丙庆 .
中国专利 :CN113190451A ,2021-07-30
[7]
测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
代雪刚 ;
王勇 .
中国专利 :CN115617662A ,2023-01-17
[8]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何木来 ;
刘素华 ;
彭广毫 .
中国专利 :CN118093444A ,2024-05-28
[9]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何木来 ;
刘素华 ;
彭广毫 .
中国专利 :CN118093444B ,2024-08-02
[10]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王明永 .
中国专利 :CN119988204A ,2025-05-13
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