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基于空间编码的干涉共焦测量系统及其测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510003548.X
申请日
:
2025-01-02
公开(公告)号
:
CN119984087B
公开(公告)日
:
2025-09-26
发明(设计)人
:
王之一
冯晓鹏
王建立
刘昌华
贾建禄
申请人
:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址
:
130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
IPC主分类号
:
G01B11/24
IPC分类号
:
代理机构
:
长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218
代理人
:
高一明
法律状态
:
授权
国省代码
:
北京市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-09-26
授权
授权
2025-05-30
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/24申请日:20250102
2025-05-13
公开
公开
共 50 条
[1]
基于空间编码的干涉共焦测量系统及其测量方法
[P].
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机构:
王之一
;
冯晓鹏
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
冯晓鹏
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;
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刘昌华
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机构:
贾建禄
.
中国专利
:CN119984087A
,2025-05-13
[2]
基于二维色散的干涉共焦测量系统及其测量方法
[P].
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王之一
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冯晓鹏
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
冯晓鹏
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江思博
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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江思博
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周敬萱
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
周敬萱
.
中国专利
:CN119468920A
,2025-02-18
[3]
共焦测量系统及其测量方法
[P].
糜小涛
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糜小涛
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刘昌华
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刘昌华
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全胜
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姚凯男
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姚凯男
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中国专利
:CN115493517A
,2022-12-20
[4]
共焦测量系统及其测量方法
[P].
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姚凯男
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
姚凯男
.
中国专利
:CN115493517B
,2025-05-30
[5]
基于外差干涉的光谱共焦位移测量系统及其测量方法
[P].
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王之一
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冯晓鹏
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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冯晓鹏
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李烁
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中国专利
:CN119394192A
,2025-02-07
[6]
基于外差干涉的光谱共焦位移测量系统及其测量方法
[P].
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王之一
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冯晓鹏
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
冯晓鹏
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中国专利
:CN119394192B
,2025-03-07
[7]
共焦测量系统及其测量方法
[P].
王建立
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杨禹凯
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姚凯男
.
中国专利
:CN115655141A
,2023-01-31
[8]
共焦测量系统及其测量方法
[P].
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
姚凯男
.
中国专利
:CN115655141B
,2025-08-19
[9]
基于微球辅助的差动干涉共焦位移测量系统及测量方法
[P].
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王之一
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冯晓鹏
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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冯晓鹏
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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江思博
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周敬萱
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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周敬萱
.
中国专利
:CN119289850A
,2025-01-10
[10]
基于微球辅助的差动干涉共焦位移测量系统及测量方法
[P].
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机构:
王之一
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机构:
王建立
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冯晓鹏
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
冯晓鹏
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糜小涛
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高胜英
;
江思博
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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江思博
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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,2025-03-18
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