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一种元件深紫外激光损伤阈值测试装置及方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511158096.9
申请日：
2025-08-19
公开(公告)号：
CN120721618A
公开(公告)日：
2025-09-30
发明(设计)人：
苏良碧 单翀 姜大朋 寇华敏 吴庆辉 张中晗 刘荣荣 韩平 薛艳艳 方立志
申请人：
中国科学院上海硅酸盐研究所
申请人地址：
200050 上海市长宁区定西路1295号
IPC主分类号：
G01N17/00
IPC分类号：
代理机构：
上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261
代理人：
郑优丽;尚宏宇
法律状态：
公开
国省代码：
北京市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-30 公开 公开
2025-11-07 授权 授权
2025-10-21 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 17/00申请日:20250819
共 50 条
[1]
一种元件深紫外激光损伤阈值测试装置及方法 [P]. 
苏良碧 ;
单翀 ;
姜大朋 ;
寇华敏 ;
吴庆辉 ;
张中晗 ;
刘荣荣 ;
韩平 ;
薛艳艳 ;
方立志 .
中国专利 :CN120721618B ,2025-11-07
[2]
一种光学元件后表面激光损伤阈值的测试装置及测试方法 [P]. 
单翀 ;
夏兰 ;
冯伟 ;
李福建 ;
赵晓晖 ;
饶大幸 ;
崔勇 ;
季来林 ;
高妍琦 ;
赵元安 ;
刘晓凤 .
中国专利 :CN114486190A ,2022-05-13
[3]
一种光学元件后表面激光损伤阈值的测试装置及测试方法 [P]. 
单翀 ;
夏兰 ;
冯伟 ;
李福建 ;
赵晓晖 ;
饶大幸 ;
崔勇 ;
季来林 ;
高妍琦 ;
赵元安 ;
刘晓凤 .
中国专利 :CN114486190B ,2024-07-16
[4]
激光损伤阈值测试装置 [P]. 
张岳 ;
陈晓东 .
中国专利 :CN208350331U ,2019-01-08
[5]
薄膜及光学元件激光损伤阈值组合测试装置及测试方法 [P]. 
苏俊宏 ;
徐均琪 ;
梁海锋 ;
杨利红 ;
惠迎雪 ;
杭凌侠 ;
朱昌 .
中国专利 :CN101718712B ,2010-06-02
[6]
薄膜及光学元件激光损伤阈值组合测试装置 [P]. 
苏俊宏 ;
徐均琪 ;
梁海锋 ;
杨利红 ;
惠迎雪 ;
杭凌侠 ;
朱昌 .
中国专利 :CN201622245U ,2010-11-03
[7]
一种高反射样品激光损伤阈值测试装置 [P]. 
白芳 ;
麻云凤 ;
樊仲维 ;
程旺 ;
宫学程 .
中国专利 :CN112033644B ,2020-12-04
[8]
光斑生成装置、光学元件激光损伤阈值测试装置及方法 [P]. 
朱玲琳 ;
曾爱军 ;
黄惠杰 .
中国专利 :CN115615672B ,2024-02-06
[9]
光斑生成装置、光学元件激光损伤阈值测试装置及方法 [P]. 
朱玲琳 ;
曾爱军 ;
黄惠杰 .
中国专利 :CN115615672A ,2023-01-17
[10]
一种光学元件激光损伤增长阈值的测试装置及方法 [P]. 
单翀 ;
李福建 ;
夏兰 ;
朱翔宇 ;
崔勇 ;
季来林 ;
冯伟 ;
赵晓晖 ;
高妍琦 ;
饶大幸 ;
史建 .
中国专利 :CN115371970A ,2022-11-22
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