失效测试方法、测试装置、测试设备和可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211157141.5

申请日：

2022-09-21

公开(公告)号：

CN115458025B

公开(公告)日：

2025-10-14

发明(设计)人：

赵哲吴耆贤

申请人：

长鑫存储技术有限公司

申请人地址：

230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

IPC主分类号：

G11C29/08

IPC分类号：

G11C29/56

代理机构：

代理人：

法律状态：

授权

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-14	授权	授权

共 50 条

[1]

失效测试方法、测试装置、测试设备和可读存储介质 [P].

赵哲 ;

吴耆贤 .

中国专利 :CN115458025A ,2022-12-09

[2]

测试方法、测试装置、测试设备和计算机可读存储介质 [P].

李方庆 ;

陈沫 ;

陈凯 ;

鲁思颖 .

中国专利 :CN120260447A ,2025-07-04

[3]

测试装置、测试设备、测试方法及存储介质 [P].

徐熊 ;

雷震宇 ;

唐知华 ;

丁蕾 ;

贺舒杰 .

中国专利 :CN120808857A ,2025-10-17

[4]

器件失效测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

张楠 ;

冯慧 ;

高会壮 ;

谭士海 ;

王长鑫 ;

刘恒 .

中国专利 :CN119575125A ,2025-03-07

[5]

测试方法、测试装置、测试设备及计算机可读存储介质 [P].

叶仁成 .

中国专利 :CN109710508A ,2019-05-03

[6]

测试方法、测试装置、测试设备及计算机可读存储介质 [P].

叶仁成 .

中国专利 :CN109710508B ,2024-03-15

[7]

测试方法、测试装置、电子设备和可读存储介质 [P].

孔军 ;

王超 ;

廖伟达 .

中国专利 :CN111782497A ,2020-10-16

[8]

测试方法、装置、测试设备和可读存储介质 [P].

赵旸 ;

左永强 ;

朴顺福 ;

刘旭峰 ;

史江通 ;

陈波 .

中国专利 :CN121093492A ,2025-12-09

[9]

显示模组的测试方法、测试装置、测试设备和存储介质 [P].

张伟彬 ;

肖志慧 .

中国专利 :CN118072641A ,2024-05-24

[10]

蓝牙测试方法、测试装置、测试设备及存储介质 [P].

黄光华 .

中国专利 :CN119109528A ,2024-12-10

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