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微型干涉光谱仪及其测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202210816098.2
申请日
:
2022-07-12
公开(公告)号
:
CN115219029B
公开(公告)日
:
2025-09-26
发明(设计)人
:
吕金光
梁静秋
赵百轩
郑凯丰
赵莹泽
陶金
王惟彪
秦余欣
申请人
:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址
:
130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
IPC主分类号
:
G01J3/45
IPC分类号
:
G01J3/02
代理机构
:
长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218
代理人
:
郭婷
法律状态
:
授权
国省代码
:
北京市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-09-26
授权
授权
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[1]
微型调制干涉光谱仪及其测量方法
[P].
吕金光
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吕金光
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梁静秋
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王惟彪
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王惟彪
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秦余欣
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秦余欣
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中国专利
:CN115014528A
,2022-09-06
[2]
微型调制干涉光谱仪及其测量方法
[P].
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吕金光
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梁静秋
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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:CN115014528B
,2024-09-06
[3]
微型傅里叶变换光谱仪及其测量方法
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梁静秋
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:CN115219031B
,2025-05-30
[4]
空间光调制光谱仪及其测量方法
[P].
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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秦余欣
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:CN115219028B
,2025-05-27
[5]
相位调控阵列液晶光谱仪及其测量方法
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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秦余欣
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:CN115355991B
,2025-09-26
[6]
相位调控阵列液晶光谱仪及其测量方法
[P].
吕金光
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秦余欣
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:CN115355991A
,2022-11-18
[7]
液晶光谱仪及其测量方法
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秦余欣
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中国专利
:CN115219030B
,2025-09-23
[8]
数字微镜阵列光谱仪及其测量方法
[P].
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吕金光
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梁静秋
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秦余欣
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中国专利
:CN115219027B
,2025-07-25
[9]
液晶空间光调制光谱仪及其测量方法
[P].
吕金光
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,2022-11-18
[10]
液晶空间光调制光谱仪及其测量方法
[P].
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吕金光
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梁静秋
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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:CN115355990B
,2025-09-23
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