一种中子导管波纹度测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510982360.4

申请日：

2025-07-16

公开(公告)号：

CN120721028A

公开(公告)日：

2025-09-30

发明(设计)人：

李卓吴延岩康乐王铜柯志勇蔡泽迎夏舜殷煜钦刘航兵李海辉彭文欣

申请人：

中国科学院高能物理研究所散裂中子源科学中心

申请人地址：

100000 北京市石景山区玉泉路19号(乙)院

IPC主分类号：

G01B11/30

IPC分类号：

G01B11/00 G01C1/00 G01C15/00

代理机构：

广东众达律师事务所 44431

代理人：

张雪华;王世罡

法律状态：

公开

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-30	公开	公开
2025-10-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/30申请日:20250716

共 50 条

[1]

一种中子导管波纹度的测量系统 [P].

李卓 ;

吴延岩 ;

康乐 ;

王铜 ;

柯志勇 ;

蔡泽迎 ;

夏舜 ;

殷煜钦 ;

刘航兵 ;

李海辉 ;

彭文欣 .

中国专利 :CN120627975A ,2025-09-12

[2]

中子测量方法及中子测量装置 [P].

黄俊恺 .

中国专利 :CN118426024A ,2024-08-02

[3]

中子测量系统及中子测量方法 [P].

蔡文旗 ;

林宗逸 .

中国专利 :CN118483732A ,2024-08-13

[4]

一种垂直度测量方法 [P].

白晴 ;

钱焕 ;

刘家超 ;

白林增 ;

国贤慧 ;

李伟策 .

中国专利 :CN116164718B ,2024-08-20

[5]

一种宽量程中子测量方法 [P].

张锐 ;

陈思泽 ;

赵信怡 ;

冯园园 .

中国专利 :CN120871222A ,2025-10-31

[6]

中子线测量装置及中子线测量方法 [P].

赤堀清崇 ;

原野英树 .

中国专利 :CN113031052A ,2021-06-25

[7]

一种立柱垂直度测量方法 [P].

陈曙霞 ;

吕雨 ;

干明 .

中国专利 :CN111174771A ,2020-05-19

[8]

一种天然中子能谱测量方法 [P].

徐勇军 ;

吴建华 ;

陈然 ;

李传龙 .

中国专利 :CN104570048A ,2015-04-29

[9]

一种中子信号的测量装置及测量方法 [P].

魏志勇 ;

石云鹤 ;

郭义盼 ;

方美华 ;

张余炼 ;

吴弘毅 .

中国专利 :CN115598693A ,2023-01-13

[10]

一种中子能谱测量装置及其测量方法 [P].

孙爱赟 ;

黑大千 ;

求梦程 ;

赵冬 .

中国专利 :CN112526584A ,2021-03-19

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