光学测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110147297.4

申请日：

2021-02-03

公开(公告)号：

CN113390334B

公开(公告)日：

2025-10-14

发明(设计)人：

奥田贵启高嶋润谷沢元春

申请人：

欧姆龙株式会社

申请人地址：

日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东入南不动堂町801番地(邮编:600-8530)

IPC主分类号：

G01B11/00

IPC分类号：

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

马爽;臧建明

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-14	授权	授权

共 50 条

[1]

光学测量装置 [P].

奥田贵启 ;

高嶋润 ;

谷沢元春 .

中国专利 :CN113390334A ,2021-09-14

[2]

光学测量装置 [P].

森野久康 ;

的场贤一 ;

菅孝博 .

中国专利 :CN110672034A ,2020-01-10

[3]

光学测量装置 [P].

森野久康 ;

高岛润 ;

的场贤一 ;

早川雅之 ;

藤原直树 ;

丸川真理子 .

中国专利 :CN107063127A ,2017-08-18

[4]

光学测量装置 [P].

奥田贵启 ;

丸川真理子 ;

森野久康 .

中国专利 :CN110260784A ,2019-09-20

[5]

光学测量装置 [P].

森野久康 ;

的场贤一 ;

菅孝博 .

中国专利 :CN107228635A ,2017-10-03

[6]

光学测量装置 [P].

赵大衍 ;

金裕振 ;

文知浩 ;

朴锺宇 ;

崔荣太 .

中国专利 :CN113218624A ,2021-08-06

[7]

光学测量装置 [P].

赵大衍 ;

金裕振 ;

文知浩 ;

朴锺宇 ;

崔荣太 .

韩国专利 :CN113218624B ,2025-09-23

[8]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

田口都一 .

日本专利 :CN120558845A ,2025-08-29

[9]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

田口都一 .

日本专利 :CN112710634B ,2025-06-24

[10]

光学测量装置以及光学测量方法 [P].

田口都一 ;

入江优 .

中国专利 :CN113137929A ,2021-07-20

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