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一种时域脉冲电磁辐射测试系统和方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510767084.X
申请日
:
2025-06-10
公开(公告)号
:
CN120722085A
公开(公告)日
:
2025-09-30
发明(设计)人
:
魏文轩
王志成
毛徳强
李科
冯爽
马策一
于泽
郑炳乾
赵文明
季莉栓
王迎节
申请人
:
中国电子科技集团公司第五十四研究所
中电网通国测技术服务(河北)有限公司
申请人地址
:
050081 河北省石家庄市中山西路589号中国电子科技集团公司第五十四研究所检验试验中心
IPC主分类号
:
G01R31/00
IPC分类号
:
G01R29/08
代理机构
:
河北东尚律师事务所 13124
代理人
:
王文庆
法律状态
:
公开
国省代码
:
河北省 衡水市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-09-30
公开
公开
2025-10-21
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/00申请日:20250610
共 50 条
[1]
一种时域脉冲电磁辐射测试系统和方法
[P].
魏文轩
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机构:
中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
魏文轩
;
王志成
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机构:
中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
王志成
;
毛徳强
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中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
毛徳强
;
李科
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中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
李科
;
王迎节
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机构:
中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
王迎节
;
冯爽
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中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
冯爽
;
马策一
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中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
马策一
;
于泽
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中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
于泽
;
郑炳乾
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中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
郑炳乾
;
赵文明
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中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
赵文明
;
季莉栓
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机构:
中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
季莉栓
.
中国专利
:CN120891297A
,2025-11-04
[2]
一种用于微弱空间辐射发射电磁信号的测试系统和方法
[P].
王志成
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中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
王志成
;
魏文轩
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中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
魏文轩
;
李科
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中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
李科
;
赵文明
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中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
赵文明
;
季莉栓
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中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
季莉栓
;
王迎节
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中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
王迎节
;
王玲
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中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
王玲
;
付强
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中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
付强
;
张一凡
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机构:
中国电子科技集团公司第五十四研究所
中国电子科技集团公司第五十四研究所
张一凡
.
中国专利
:CN119916108A
,2025-05-02
[3]
一种用于辐射发射测试的系统及方法
[P].
王志成
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王志成
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魏文轩
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魏文轩
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赵文明
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赵文明
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季莉栓
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季莉栓
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王迎节
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王迎节
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王玲
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王玲
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付强
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付强
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张一凡
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张一凡
.
中国专利
:CN115032466A
,2022-09-09
[4]
一种用于脉冲发射测试的系统及方法
[P].
王志成
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王志成
;
赵文明
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赵文明
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魏文轩
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魏文轩
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季莉栓
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季莉栓
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王迎节
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王迎节
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王玲
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王玲
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付强
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付强
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张一凡
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张一凡
.
中国专利
:CN114878950A
,2022-08-09
[5]
一种电磁辐射测试系统
[P].
李海龙
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李海龙
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康凌志
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康凌志
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王小飞
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王小飞
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冯立新
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冯立新
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杨武
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杨武
.
中国专利
:CN205643531U
,2016-10-12
[6]
一种织物防电磁辐射测试系统
[P].
邵宪锦
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邵宪锦
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张金忠
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张金忠
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杨建成
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杨建成
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武媛
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武媛
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杨红斌
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杨红斌
.
中国专利
:CN210665546U
,2020-06-02
[7]
电磁辐射预测试系统
[P].
刘永健
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刘永健
.
中国专利
:CN114034935A
,2022-02-11
[8]
电磁辐射测试方法和装置
[P].
薛伟光
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薛伟光
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黄红艳
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黄红艳
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武云龙
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武云龙
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王洪军
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王洪军
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赵源
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赵源
.
中国专利
:CN110907706A
,2020-03-24
[9]
一种电磁辐射参数测试系统
[P].
熊祥正
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熊祥正
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廖成
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廖成
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罗杰
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罗杰
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奂瑞
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奂瑞
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高明均
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高明均
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郭晓东
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郭晓东
.
中国专利
:CN106771668A
,2017-05-31
[10]
一种MOSFET电磁辐射抗扰性测试方法
[P].
林辰正
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机构:
北京微电子技术研究所
北京微电子技术研究所
林辰正
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赵昕
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北京微电子技术研究所
赵昕
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北京微电子技术研究所
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吴立成
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北京微电子技术研究所
吴立成
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机构:
北京微电子技术研究所
北京微电子技术研究所
杨军
.
中国专利
:CN118393307A
,2024-07-26
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