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误码率测量装置及误码率测量方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510195329.6
申请日：
2025-02-21
公开(公告)号：
CN120729483A
公开(公告)日：
2025-09-30
发明(设计)人：
泷口昌史
藤原宇希
申请人：
安立股份有限公司
申请人地址：
日本
IPC主分类号：
H04L1/20
IPC分类号：
H04L43/0823
H04B17/15
H04B17/17
H04B17/29
代理机构：
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人：
王伟楠
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-09-30 | 公开 | 公开 |
| 2025-10-21 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):H04L 1/20申请日:20250221 |