芯片验证方法、测试设备及芯片验证系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510983745.2

申请日：

2025-07-17

公开(公告)号：

CN120493825B

公开(公告)日：

2025-09-30

发明(设计)人：

李涛曹明才罗森张燕杨立

申请人：

重庆览山汽车电子有限公司

申请人地址：

401135 重庆市渝北区两江新区龙兴镇卓越路19号（集群注册）

IPC主分类号：

G06F30/3308

IPC分类号：

代理机构：

深圳市六加知识产权代理有限公司 44372

代理人：

陈金赏

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-30	授权	授权
2025-09-02	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/3308申请日:20250717
2025-08-15	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片验证方法、测试设备及芯片验证系统 [P].

李涛 ;

曹明才 ;

罗森 ;

张燕 ;

杨立 .

中国专利 :CN120493825A ,2025-08-15

[2]

芯片验证系统、芯片验证方法 [P].

田玉利 .

中国专利 :CN113220518B ,2024-07-16

[3]

芯片验证系统、芯片验证方法 [P].

田玉利 .

中国专利 :CN113220518A ,2021-08-06

[4]

芯片测试板、芯片验证系统、芯片测试系统以及芯片测试方法 [P].

胡超 ;

梁伟 .

中国专利 :CN119511026A ,2025-02-25

[5]

芯片验证系统、芯片验证方法、终端及存储介质 [P].

刘君 .

中国专利 :CN111983429A ,2020-11-24

[6]

芯片验证系统、验证方法、设备及介质 [P].

赵建斌 ;

陈一敏 ;

何永孟 .

中国专利 :CN120832275A ,2025-10-24

[7]

芯片测试方法、验证系统及存储介质 [P].

夏一民 ;

徐雪刚 ;

罗恒 ;

刘蓬侠 ;

王磊 ;

龚国辉 ;

张晓明 .

中国专利 :CN111045880A ,2020-04-21

[8]

一种芯片验证方法和芯片验证设备 [P].

许雪飞 .

中国专利 :CN119337815B ,2025-06-06

[9]

一种芯片验证方法和芯片验证设备 [P].

许雪飞 .

中国专利 :CN119337815A ,2025-01-21

[10]

芯片验证方法、芯片验证系统、电子设备及存储介质 [P].

杜玉欣 ;

金鹏 ;

李壮壮 ;

王家耀 ;

宋骁雄 ;

王黎元 ;

张敏 ;

李男 ;

王大鹏 ;

胡臻平 ;

刘婧迪 .

中国专利 :CN118839661A ,2024-10-25

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