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自动分析系统、控制装置及清洗方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202080094146.0
申请日：
2020-11-06
公开(公告)号：
CN115004039B
公开(公告)日：
2025-09-30
发明(设计)人：
森高通 龟山大树 伊藤匠 高桥健一 大泷智正
申请人：
株式会社日立高新技术
申请人地址：
日本东京都
IPC主分类号：
G01N35/10
IPC分类号：
代理机构：
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人：
许静;范胜杰
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-30 授权 授权
共 50 条
[1]
自动分析系统、控制装置及清洗方法 [P]. 
森高通 ;
龟山大树 ;
伊藤匠 ;
高桥健一 ;
大泷智正 .
中国专利 :CN115004039A ,2022-09-02
[2]
清洗装置及自动分析装置 [P]. 
鹤田博士 .
中国专利 :CN101632025A ,2010-01-20
[3]
自动分析装置及探针的清洗方法 [P]. 
森高通 ;
野岛彰纮 ;
山崎功夫 .
中国专利 :CN112470008A ,2021-03-09
[4]
自动分析装置及探针的清洗方法 [P]. 
森高通 ;
野岛彰纮 ;
山崎功夫 .
日本专利 :CN112470008B ,2024-08-13
[5]
自动分析装置及清洗方法 [P]. 
村松由规 ;
安居晃启 ;
铃木庆弘 ;
有贺洋一 .
中国专利 :CN108700610B ,2018-10-23
[6]
自动分析装置和清洗方法 [P]. 
深谷昌史 ;
平野匡章 ;
安居晃启 .
日本专利 :CN112639487B ,2024-03-08
[7]
自动分析装置和清洗方法 [P]. 
深谷昌史 ;
平野匡章 ;
安居晃启 .
中国专利 :CN112639487A ,2021-04-09
[8]
自动分析装置及自动分析方法 [P]. 
伊藤匠 ;
东信二 ;
深谷昌史 .
中国专利 :CN110036296A ,2019-07-19
[9]
自动分析装置、自动分析系统和自动分析方法 [P]. 
稻边利幸 ;
牧野彰久 ;
足立作一郎 ;
薮谷千枝 .
中国专利 :CN107923853A ,2018-04-17
[10]
自动分析装置、自动分析系统及样品的自动分析方法 [P]. 
深谷昌史 ;
安居晃启 .
中国专利 :CN113287022A ,2021-08-20
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