调试方法、电子设备及可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202511028063.2
申请日
2025-07-24
公开(公告)号
CN120849253A
公开(公告)日
2025-10-28
发明(设计)人
辛洋洋 武和波 程广亮
申请人
济南迈威智能科技有限公司
申请人地址
250098 山东省济南市高新区舜华路街道浪潮路1036号浪潮科技园S02楼32层3202室
IPC主分类号
G06F11/362
IPC分类号
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
薛娇
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
DDR调试方法及系统、可读存储介质、电子设备 [P]. 
王文超 ;
唐月林 .
中国专利 :CN112328441B ,2021-02-05
[2]
游戏调试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
郭朱垒 .
中国专利 :CN118170634A ,2024-06-11
[3]
调试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
董龙声 .
中国专利 :CN111798785A ,2020-10-20
[4]
子应用调试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
张勇 ;
王龙 .
中国专利 :CN117370180A ,2024-01-09
[5]
调试方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
刘林炫 ;
张茂 .
中国专利 :CN119743274A ,2025-04-01
[6]
系统调试的方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
樊宏斌 ;
林喆 .
中国专利 :CN114328164A ,2022-04-12
[7]
设备调试管控方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
杨祖伟 ;
刘强 ;
顾德军 ;
黄先锋 ;
马莉 .
中国专利 :CN112001050B ,2024-01-09
[8]
设备调试管控方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
杨祖伟 ;
刘强 ;
顾德军 ;
黄先锋 ;
马莉 .
中国专利 :CN112001050A ,2020-11-27
[9]
调试方法、电子设备、存储介质 [P]. 
颜可煌 .
中国专利 :CN115268716B ,2024-06-25
[10]
调试方法、调试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
肖俊阳 ;
罗金阁 ;
马伟哲 ;
吴新 ;
袁国权 ;
刘义胜 ;
曾通 .
中国专利 :CN118264641A ,2024-06-28