一种SDR微系统内FPGA单元高速接口性能测试系统及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511027175.6

申请日：

2025-07-24

公开(公告)号：

CN120930570A

公开(公告)日：

2025-11-11

发明(设计)人：

王高原赵翔宇张帆冯长磊姚旺卢峰王志红武昊男李锁兰苏浩淼田建松张钧轶窦宇飞

申请人：

北京时代民芯科技有限公司北京微电子技术研究所中国运载火箭技术研究院

申请人地址：

100076 北京市丰台区东高地四营门北路2号

IPC主分类号：

G06F30/331

IPC分类号：

G06F30/337

代理机构：

中国航天科技专利中心 11009

代理人：

臧春喜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/331申请日:20250724
2025-11-11	公开	公开

共 50 条

[1]

一种CPU网络接口性能测试板卡、测试系统及测试方法 [P].

孙瑛琪 ;

杨晓君 ;

张腾 ;

袁飞 ;

孙浩天 .

中国专利 :CN111984486B ,2025-04-01

[2]

一种CPU网络接口性能测试板卡、测试系统及测试方法 [P].

孙瑛琪 ;

杨晓君 ;

张腾 ;

袁飞 ;

孙浩天 .

中国专利 :CN111984486A ,2020-11-24

[3]

一种换热器性能测试系统及测试方法 [P].

杜龙 ;

白云勇 ;

王泽方 .

中国专利 :CN104634595A ,2015-05-20

[4]

一种接口性能测试系统 [P].

邢彬朝 ;

刘小兵 .

中国专利 :CN109861879A ,2019-06-07

[5]

一种FPGA高速SerDes接口的集成测试系统及方法 [P].

段美霞 ;

段爱霞 ;

江勇 ;

段艳玲 ;

白娟 ;

黄永志 ;

韩珂 .

中国专利 :CN109885434B ,2019-06-14

[6]

一种空气静压止推轴承高速性能测试系统及测试方法 [P].

高思煜 ;

施云高 ;

徐林森 ;

陈红 ;

张孝俣 ;

夏明 ;

朱佰新 .

中国专利 :CN108344573A ,2018-07-31

[7]

一种合并单元测试仪的性能测试系统及方法 [P].

欧阳帆 ;

张亮峰 ;

陈宏 ;

刘宇 ;

杨俊武 ;

刘海峰 ;

刘伟良 ;

臧欣 ;

敖非 ;

李辉 ;

许立强 .

中国专利 :CN104360298A ,2015-02-18

[8]

PCIE接口性能测试系统 [P].

何云龙 ;

张博 .

中国专利 :CN119201581A ,2024-12-27

[9]

一种Pogopin模组性能测试系统及其测试方法 [P].

杨超 ;

罗永明 .

中国专利 :CN105486970A ,2016-04-13

[10]

PCIE接口性能测试系统 [P].

何云龙 ;

张博 .

中国专利 :CN119201581B ,2025-09-12

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