存储设备的测试方法和装置、存储介质及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511295860.7

申请日：

2025-09-11

公开(公告)号：

CN120762984B

公开(公告)日：

2025-11-21

发明(设计)人：

刘聖福吴丰硕刘福东

申请人：

浪潮电子信息产业股份有限公司

申请人地址：

250101 山东省济南市高新区草山岭南路801号9层东侧

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

张秀英

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-10	公开	公开
2025-10-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20250911
2025-11-21	授权	授权

共 50 条

[1]

存储设备的测试方法和装置、存储介质及电子设备 [P].

刘聖福 ;

吴丰硕 ;

刘福东 .

中国专利 :CN120762984A ,2025-10-10

[2]

存储设备测试方法、装置及电子设备 [P].

魏远甲 .

中国专利 :CN120708687A ,2025-09-26

[3]

存储设备的控制方法和装置、存储介质及电子设备 [P].

刘伯书 ;

樊淋杰 .

中国专利 :CN120428930A ,2025-08-05

[4]

存储设备的检测方法和装置、存储介质及电子设备 [P].

吴丰硕 ;

刘福东 ;

刘聖福 .

中国专利 :CN120544655A ,2025-08-26

[5]

存储设备的控制方法和装置、存储介质及电子设备 [P].

刘伯书 ;

樊淋杰 .

中国专利 :CN120428930B ,2025-09-09

[6]

存储设备的挂载方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

韩小虎 .

中国专利 :CN118131974A ,2024-06-04

[7]

模型的测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

尹小玉 .

中国专利 :CN120336928A ,2025-07-18

[8]

产品测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

赵振超 .

中国专利 :CN113252665B ,2021-08-13

[9]

应用测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘桐欢 .

中国专利 :CN113886271A ,2022-01-04

[10]

应用测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨帆 .

中国专利 :CN120994534A ,2025-11-21

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