物理量测量系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202480016536.4
申请日
2024-02-06
公开(公告)号
CN120826607A
公开(公告)日
2025-10-21
发明(设计)人
高仓裕也 松田正誉 中林裕治 佐藤真人 小西良平 三好麻子
申请人
松下知识产权经营株式会社
申请人地址
日本
IPC主分类号
G01N25/56
IPC分类号
G01N29/024
代理机构
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
张会华;石宝方
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
物理量测量系统 [P]. 
高仓裕也 ;
松田正誉 ;
中林裕治 ;
佐藤真人 ;
小西良平 ;
三好麻子 .
日本专利 :CN120813833A ,2025-10-17
[2]
物理量测量系统 [P]. 
高仓裕也 ;
松田正誉 ;
中林裕治 ;
佐藤真人 ;
小西良平 ;
三好麻子 .
日本专利 :CN120835990A ,2025-10-24
[3]
物理量测量系统 [P]. 
高仓裕也 ;
松田正誉 ;
中林裕治 ;
佐藤真人 ;
小西良平 ;
三好麻子 .
日本专利 :CN120835991A ,2025-10-24
[4]
物理量测量系统 [P]. 
松田正誉 ;
高仓裕也 ;
中林裕治 ;
三好麻子 ;
小西良平 ;
佐藤真人 .
日本专利 :CN120858281A ,2025-10-28
[5]
物理量测量装置及物理量测量方法 [P]. 
林圣人 .
中国专利 :CN102564631A ,2012-07-11
[6]
物理量测量装置 [P]. 
小西良平 ;
三好麻子 ;
中林裕治 ;
佐藤真人 ;
松田正誉 ;
高仓裕也 .
日本专利 :CN119256211A ,2025-01-03
[7]
物理量测量设备和物理量测量方法 [P]. 
佐佐木晋一 .
中国专利 :CN103513103A ,2014-01-15
[8]
物理量测量装置 [P]. 
小西良平 ;
三好麻子 ;
中林裕治 ;
佐藤真人 ;
松田正誉 ;
高仓裕也 .
日本专利 :CN119256210A ,2025-01-03
[9]
物理量测量装置 [P]. 
远山秀司 ;
山岸信贵 ;
山下直树 ;
绿川祐介 .
中国专利 :CN110926691A ,2020-03-27
[10]
物理量测量装置 [P]. 
簣河原悠里 ;
田中康久 ;
关秀文 .
中国专利 :CN110940453A ,2020-03-31