一种涂层测厚仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202423199989.1

申请日：

2024-12-25

公开(公告)号：

CN223525769U

公开(公告)日：

2025-11-07

发明(设计)人：

蒋子旋杨军

申请人：

深圳宇问测量技术有限公司

申请人地址：

518100 广东省深圳市宝安区新安街道兴东社区69区中粮创芯研发中心1栋1505

IPC主分类号：

G01B21/08

IPC分类号：

H05K1/00 G01K13/00 H02H5/04

代理机构：

代理人：

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-07	授权	授权

共 50 条

[1]

一种涂层测厚仪 [P].

邹倍瑜 ;

王晓栋 ;

刘铁强 ;

李祯 ;

毛晓栋 ;

谢觉良 .

中国专利 :CN207066393U ,2018-03-02

[2]

一种涂层测厚仪 [P].

吴发展 ;

金明建 ;

耿红喜 .

中国专利 :CN216049758U ,2022-03-15

[3]

一种涂层测厚仪 [P].

丁惠群 ;

赵志惠 ;

冯明 ;

金鑫 ;

沈潇彬 .

中国专利 :CN205879100U ,2017-01-11

[4]

一种涂层测厚仪 [P].

国江 .

中国专利 :CN205120028U ,2016-03-30

[5]

一种涂层测厚仪 [P].

冯涛 .

中国专利 :CN208860331U ,2019-05-14

[6]

一种涂层测厚仪 [P].

欧阳海军 .

中国专利 :CN209013918U ,2019-06-21

[7]

一种涂层测厚仪 [P].

李宏艳 .

中国专利 :CN203464902U ,2014-03-05

[8]

一种涂层测厚仪 [P].

霍然 ;

朱琳 ;

王程程 ;

肖添 .

中国专利 :CN208075765U ,2018-11-09

[9]

一种便于携带的涂层测厚仪 [P].

喻兵 .

中国专利 :CN208952930U ,2019-06-07

[10]

一种多用涂层测厚仪 [P].

张健 ;

杜新安 ;

申韶华 ;

王郁芬 .

中国专利 :CN206656687U ,2017-11-21

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