量化分析三维电阻率层析成像结果的方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511015000.3

申请日：

2025-07-23

公开(公告)号：

CN120908257A

公开(公告)日：

2025-11-07

发明(设计)人：

田杰向海康伟明李佳文熊涛

申请人：

兰州大学

申请人地址：

730030 甘肃省兰州市天水南路222号

IPC主分类号：

G01N27/04

IPC分类号：

G01N13/04 G01V3/38 G01V15/00 G06T17/00

代理机构：

上海段和段律师事务所 31334

代理人：

袁旭

法律状态：

公开

国省代码：

甘肃省兰州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-07	公开	公开
2025-11-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 27/04申请日:20250723

共 50 条

[1]

一种三维电阻率层析成像方法及系统 [P].

苏茂鑫 ;

刘轶民 ;

薛翊国 ;

管理 ;

赵莹 .

中国专利 :CN111722292A ,2020-09-29

[2]

堤坝电阻率层析成像观测系统 [P].

王小毛 ;

张建清 ;

张智 ;

徐涛 ;

林永燊 ;

肖璐笛 .

中国专利 :CN109521476B ,2019-03-26

[3]

基于多通道电极设计的电阻率层析成像法测量系统及其方法 [P].

蒋甫玉 ;

陈海军 ;

高丽坤 ;

黄岩 ;

倪炯 ;

乔培轩 ;

柯松 .

中国专利 :CN117031552B ,2024-05-28

[4]

三维层析成像系统、成像方法 [P].

邢芳俭 ;

杨丰旭 ;

李伟 .

中国专利 :CN118130388A ,2024-06-04

[5]

三维电阻率级联自动成像方法 [P].

何展翔 ;

王永涛 .

中国专利 :CN101008678A ,2007-08-01

[6]

空间自适应非结构元电阻率层析成像方法及系统 [P].

尚耀军 .

中国专利 :CN117991348A ,2024-05-07

[7]

空间自适应非结构元电阻率层析成像方法及系统 [P].

尚耀军 .

中国专利 :CN117991348B ,2025-02-21

[8]

水平钻孔间电阻率层析成像探测器及系统 [P].

苏茂鑫 ;

李术才 ;

薛翊国 ;

高瑜 ;

邱道宏 ;

林春金 .

中国专利 :CN104166165B ,2014-11-26

[9]

水平钻孔间电阻率层析成像探测器及系统 [P].

苏茂鑫 ;

李术才 ;

薛翊国 ;

高瑜 ;

邱道宏 ;

林春金 .

中国专利 :CN204086567U ,2015-01-07

[10]

适用于多种电阻率三维层析成像的模型试验装置及方法 [P].

薛翊国 ;

管理 ;

刘轶民 ;

苏茂鑫 ;

公惠民 .

中国专利 :CN111812718B ,2020-10-23

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