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一种磁芯外观缺陷检测装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202422732853.6
申请日：
2024-11-11
公开(公告)号：
CN223501018U
公开(公告)日：
2025-10-31
发明(设计)人：
陈冰男
赖小彬
沈光日
郑学惠
申请人：
浙江中捍电子科技有限公司
申请人地址：
325600 浙江省温州市乐清市乐清经济开发区纬六路181号（温州中希电工合金有限公司内）
IPC主分类号：
G01N35/00
IPC分类号：
G01N35/10
B07C5/34
B07C5/02
代理机构：
浙江千克知识产权代理有限公司 33246
代理人：
杜晶晶
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-10-31 | 授权 | 授权 |