激光诱导击穿光谱的多元素分析方法和系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311227238.3
申请日
2023-09-21
公开(公告)号
CN117291251B
公开(公告)日
2025-11-11
发明(设计)人
段晨阳 俞进 孙琛 刘曙 闵红
申请人
上海交通大学 上海海关工业品与原材料检测技术中心
申请人地址
200240 上海市闵行区东川路800号
IPC主分类号
G06N3/09
IPC分类号
G01N21/71 G06N5/046 G06N20/20
代理机构
上海汉声知识产权代理有限公司 31236
代理人
胡晶
法律状态
实质审查的生效
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
激光诱导击穿光谱的多元素定量分析方法及系统 [P]. 
黄勇 ;
刘石梅 ;
夏星 ;
刘洋 .
中国专利 :CN119691407A ,2025-03-25
[2]
激光诱导击穿光谱的多元素定量分析方法及系统 [P]. 
黄勇 ;
刘石梅 ;
夏星 ;
刘洋 .
中国专利 :CN119691407B ,2025-06-06
[3]
基于稳定学习的激光诱导击穿光谱氯元素分析方法及系统 [P]. 
饶云飞 ;
俞进 .
中国专利 :CN115579075A ,2023-01-06
[4]
激光诱导击穿光谱的分析系统及方法 [P]. 
董大明 ;
郑文刚 ;
赵春江 ;
吴文彪 ;
郑文生 ;
韩鹏程 ;
郎筠 ;
李文龙 ;
郭瑞 .
中国专利 :CN104655595A ,2015-05-27
[5]
一种激光诱导击穿光谱元素分析系统 [P]. 
黄莎莎 .
中国专利 :CN113281257A ,2021-08-20
[6]
执行激光诱导击穿光谱的系统和方法 [P]. 
A·K·杰森 ;
T·尼古拉吉森 .
中国专利 :CN109073560A ,2018-12-21
[7]
基于激光诱导击穿光谱的普通黄铜全元素分析方法 [P]. 
吴少波 ;
张云贵 ;
孙彦广 ;
李潘 ;
于立业 ;
苏胜石 .
中国专利 :CN102359953B ,2012-02-22
[8]
基于激光诱导击穿光谱的纵向深度元素定量分析方法 [P]. 
张红 ;
张殿鑫 ;
王崧宁 ;
陈楠 ;
陈永亮 ;
柯川 .
中国专利 :CN115420730A ,2022-12-02
[9]
基于激光诱导击穿光谱的纵向深度元素定量分析方法 [P]. 
张红 ;
张殿鑫 ;
王崧宁 ;
陈楠 ;
陈永亮 ;
柯川 .
中国专利 :CN115420730B ,2024-08-16
[10]
激光诱导击穿光谱设备 [P]. 
于永爱 ;
姚逸超 ;
韩军强 .
中国专利 :CN309692267S ,2025-12-23