学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

硅光片上光电探测器响应度测试装置、测试方法及控制装置

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410518748.4
申请日：
2024-04-26
公开(公告)号：
CN120846389A
公开(公告)日：
2025-10-28
发明(设计)人：
吴昊 滕旻 程宁 卢莹 郑学哲
申请人：
张江国家实验室
申请人地址：
201210 上海市浦东新区海科路99号
IPC主分类号：
G01D18/00
IPC分类号：
G01D5/26 G01D5/353
代理机构：
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人：
俞丹
法律状态：
公开
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-10-28 公开 公开
2025-11-14 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01D 18/00申请日:20240426
共 50 条
[1]
光电探测器响应度测试装置及系统 [P]. 
张栋 ;
庞坤英 .
中国专利 :CN217766706U ,2022-11-08
[2]
光电探测器的快速测试装置及测试方法 [P]. 
谷一英 ;
张学成 ;
葛云非 ;
庞雷 ;
郭康 ;
赵明山 .
中国专利 :CN117968839A ,2024-05-03
[3]
光电探测器的快速测试装置及测试方法 [P]. 
谷一英 ;
张学成 ;
葛云非 ;
庞雷 ;
郭康 ;
赵明山 .
中国专利 :CN117968839B ,2024-06-28
[4]
光电探测器频率响应测试装置及其测试方法 [P]. 
孙甲政 ;
许博蕊 ;
袁海庆 ;
文花顺 ;
祝宁华 ;
李明 .
中国专利 :CN113406388B ,2021-09-17
[5]
一种硅光芯片探测器响应度测试装置和方法 [P]. 
周扬 ;
华士跃 .
中国专利 :CN110530613A ,2019-12-03
[6]
一种光电探测器测试装置及测试方法 [P]. 
杨正官 ;
魏冬寒 ;
孙平如 ;
苏宏波 ;
杨丽敏 .
中国专利 :CN114323567B ,2024-07-09
[7]
一种光电探测器测试装置及测试方法 [P]. 
杨正官 ;
魏冬寒 ;
孙平如 ;
苏宏波 ;
杨丽敏 .
中国专利 :CN114323567A ,2022-04-12
[8]
光电探测器芯片的快速测试装置 [P]. 
陈勘 .
中国专利 :CN205844396U ,2016-12-28
[9]
宽波段光电探测器测试装置 [P]. 
刘兴钊 ;
李雨麒 ;
任羿烜 ;
刘倢瑃 .
中国专利 :CN113465737A ,2021-10-01
[10]
一种探测器光响应测试装置 [P]. 
商海明 ;
李超 ;
穆亚泉 ;
王伟 ;
张鲁 .
中国专利 :CN211373827U ,2020-08-28
12345