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基于图像处理的合金电阻表面缺陷实时检测方法及系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511415792.3
申请日：
2025-09-30
公开(公告)号：
CN120894367A
公开(公告)日：
2025-11-04
发明(设计)人：
唐彬 涂振坤
申请人：
普森美微电子技术（苏州）有限公司
申请人地址：
215000 江苏省苏州市中国（江苏）自由贸易试验区苏州片区兴浦路200号9#301、401
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06T7/136 G06V10/54 G06V10/762 G06V10/72 G06T5/90 G06T5/40 G06V10/25 G06V10/80
代理机构：
北京中佳信联知识产权代理有限公司 16122
代理人：
靖林丹
法律状态：
公开
国省代码：
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-11-04 公开 公开
2025-11-21 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250930
共 50 条
[1]
基于图像处理的带钢表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
杨鑫 .
中国专利 :CN115311292A ,2022-11-08
[2]
基于图像处理的食品缺陷实时检测方法及系统 [P]. 
马永良 .
中国专利 :CN120783334B ,2025-11-14
[3]
基于图像处理的食品缺陷实时检测方法及系统 [P]. 
马永良 .
中国专利 :CN120783334A ,2025-10-14
[4]
压敏电阻表面缺陷检测装置 [P]. 
冯飞 .
中国专利 :CN217237773U ,2022-08-19
[5]
基于图像处理的插座表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
袁华伟 .
中国专利 :CN120064298B ,2025-10-17
[6]
基于图像处理的插座表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
袁华伟 .
中国专利 :CN120064298A ,2025-05-30
[7]
基于图像处理的晶体表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
程鹏 .
中国专利 :CN120510158A ,2025-08-19
[8]
基于图像处理的晶体表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
程鹏 .
中国专利 :CN120510158B ,2025-09-12
[9]
基于图像处理的瓷器表面缺陷检测方法 [P]. 
李淑兰 .
中国专利 :CN119438213A ,2025-02-14
[10]
基于图像处理的机械配件表面缺陷检测方法 [P]. 
张金刚 ;
司文强 ;
冯玉豹 ;
王帅福 .
中国专利 :CN113989266A ,2022-01-28
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