定子直径测量装置及定子直径测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202210191120.9
申请日
2022-02-25
公开(公告)号
CN115046519B
公开(公告)日
2025-11-18
发明(设计)人
道下治郎 田中阳介
申请人
日本电产株式会社
申请人地址
日本京都府
IPC主分类号
G01B21/10
IPC分类号
G01B21/14
代理机构
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人
马淑香
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
定子直径测量装置及定子直径测量方法 [P]. 
道下治郎 ;
田中阳介 .
中国专利 :CN115046519A ,2022-09-13
[2]
直径测量工装及直径测量方法 [P]. 
夏胜芳 ;
于晓燕 ;
毛晨君 ;
张建伟 ;
仇中益 ;
王谊东 .
中国专利 :CN118857050A ,2024-10-29
[3]
纸卷直径测量装置及测量方法 [P]. 
张佰涵 ;
周友幸 ;
胡超 ;
李新义 ;
龙仲智 .
中国专利 :CN111156947A ,2020-05-15
[4]
车轮直径测量装置及测量方法 [P]. 
张健 ;
吴翔 ;
谢钊 ;
孙祥溪 ;
贾默涵 ;
常慧娟 ;
王新达 ;
孙涛 .
中国专利 :CN114370824A ,2022-04-19
[5]
车轮直径测量装置及测量方法 [P]. 
张健 ;
吴翔 ;
谢钊 ;
孙祥溪 ;
贾默涵 ;
常慧娟 ;
王新达 ;
孙涛 .
中国专利 :CN114370824B ,2024-06-04
[6]
轴直径测量方法 [P]. 
闫皓煊 ;
侯岱双 ;
郭瑞 ;
周航 ;
夏睿聪 ;
张丁元 ;
杨辅稹 ;
鲁嘉俊 ;
侯昀辰 ;
白向阳 .
中国专利 :CN120593687A ,2025-09-05
[7]
轴直径测量方法 [P]. 
闫皓煊 ;
侯岱双 ;
郭瑞 ;
周航 ;
夏睿聪 ;
张丁元 ;
杨辅稹 ;
鲁嘉俊 ;
侯昀辰 ;
白向阳 .
中国专利 :CN120593687B ,2025-10-10
[8]
纳米颗粒直径测量装置以及纳米颗粒直径测量方法 [P]. 
杨晖 ;
杨海马 ;
孔平 ;
郑刚 ;
于小强 ;
宋磊磊 .
中国专利 :CN103424080B ,2013-12-04
[9]
劣弧外圆直径测量装置及测量方法 [P]. 
鬲雪艾 ;
王飞 .
中国专利 :CN118031763A ,2024-05-14
[10]
劣弧内孔直径测量装置及测量方法 [P]. 
鬲雪艾 ;
王飞 .
中国专利 :CN118031764A ,2024-05-14