系统测试方法、装置、设备及介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202511014220.4
申请日
2025-07-22
公开(公告)号
CN120892343A
公开(公告)日
2025-11-04
发明(设计)人
李亚雄
申请人
北京金山云网络技术有限公司
申请人地址
100085 北京市海淀区西二旗中路33号院5号楼9层101号
IPC主分类号
G06F11/3668
IPC分类号
G06F18/241 G06F18/243 G06F18/27 G06N20/20 G06N5/01
代理机构
北京开阳星知识产权代理有限公司 11710
代理人
张子青
法律状态
公开
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
测试系统的测试性能预测方法、装置、介质及电子设备 [P]. 
陈家荣 .
中国专利 :CN109389329A ,2019-02-26
[2]
系统测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
陈宇麟 ;
谈敏 ;
彭健 ;
罗琪 ;
梅强强 ;
吴学亮 .
中国专利 :CN113886263A ,2022-01-04
[3]
系统测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
陈宇麟 ;
谈敏 ;
彭健 ;
罗琪 ;
梅强强 ;
吴学亮 .
中国专利 :CN113886263B ,2024-11-01
[4]
系统测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
宋烨 .
中国专利 :CN113918466B ,2024-10-18
[5]
系统测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
宋烨 .
中国专利 :CN113918466A ,2022-01-11
[6]
测试系统、系统测试方法、相关设备及存储介质 [P]. 
那军武 ;
黄文苑 ;
陈俊发 ;
苏兰莹 ;
彭娜 .
中国专利 :CN114428723A ,2022-05-03
[7]
系统测试方法、装置、设备、介质及程序产品 [P]. 
杨杨 .
中国专利 :CN121029514A ,2025-11-28
[8]
系统测试方法、装置、设备及介质 [P]. 
吴尚奇 ;
王俊杰 ;
张吉锋 .
中国专利 :CN119716671A ,2025-03-28
[9]
系统测试方法、装置、设备及介质 [P]. 
胡涛 ;
吕苏 ;
欧鹏 ;
翟威 ;
沈涛 ;
戴康 ;
陆辉 .
中国专利 :CN112084109A ,2020-12-15
[10]
系统测试方法、装置、设备及介质 [P]. 
胡涛 ;
吕苏 ;
欧鹏 ;
翟威 ;
沈涛 ;
戴康 ;
陆辉 .
中国专利 :CN112084109B ,2024-11-19