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一种高温固体材料发射率测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202511186328.1
申请日
:
2025-08-23
公开(公告)号
:
CN120971494A
公开(公告)日
:
2025-11-18
发明(设计)人
:
胡君恒
朱群志
顾凯文
陈伟华
郑磊
魏学飞
徐建浩
江栋军
张岚
申请人
:
中国联合重型燃气轮机技术有限公司
申请人地址
:
200135 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
IPC主分类号
:
G01N25/20
IPC分类号
:
代理机构
:
北京维正专利代理有限公司 11508
代理人
:
史思亮
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-11-18
公开
公开
2025-12-05
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 25/20申请日:20250823
共 50 条
[1]
高温材料发射率测量方法和系统
[P].
张虎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张虎
;
孙红胜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孙红胜
;
陈应航
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈应航
;
王加朋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王加朋
;
任小婉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
任小婉
;
宋春晖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
宋春晖
;
李世伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李世伟
.
中国专利
:CN102928343A
,2013-02-13
[2]
表面发射率测量方法、系统、列车
[P].
张金煜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中车青岛四方机车车辆股份有限公司
中车青岛四方机车车辆股份有限公司
张金煜
;
窦晓亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中车青岛四方机车车辆股份有限公司
中车青岛四方机车车辆股份有限公司
窦晓亮
;
战申
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中车青岛四方机车车辆股份有限公司
中车青岛四方机车车辆股份有限公司
战申
;
李明洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中车青岛四方机车车辆股份有限公司
中车青岛四方机车车辆股份有限公司
李明洋
;
谷朝健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中车青岛四方机车车辆股份有限公司
中车青岛四方机车车辆股份有限公司
谷朝健
.
中国专利
:CN120274890A
,2025-07-08
[3]
基于红外测温仪的材料发射率测量方法
[P].
牛春洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
牛春洋
;
齐宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
齐宏
;
王大林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王大林
;
阮立明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
阮立明
;
姜宝成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
姜宝成
.
中国专利
:CN103091252A
,2013-05-08
[4]
一种半透明材料光谱发射率测量方法及系统
[P].
邱超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
邱超
;
杜继东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
杜继东
;
曹清政
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
曹清政
;
王莹莹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
王莹莹
;
李建亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
李建亮
;
王加朋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
王加朋
.
中国专利
:CN120213824A
,2025-06-27
[5]
材料发射率的测量系统及材料发射率的确定方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
张玖
;
岳峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东北大学
东北大学
岳峰
;
兰旭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东北大学
东北大学
兰旭
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
梅国晖
.
中国专利
:CN117990214A
,2024-05-07
[6]
材料发射率的测量系统及材料发射率的确定方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
张玖
;
岳峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东北大学
东北大学
岳峰
;
兰旭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东北大学
东北大学
兰旭
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
梅国晖
.
中国专利
:CN117990214B
,2025-05-13
[7]
一种发射率的测量方法
[P].
李云红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李云红
;
张恒
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张恒
;
马蓉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
马蓉
;
贾利娜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
贾利娜
.
中国专利
:CN105004754A
,2015-10-28
[8]
一种高温材料发射率测量系统
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
朱恂
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
廖强
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
吕义文
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
吴君军
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
王宏
.
中国专利
:CN117451780A
,2024-01-26
[9]
α粒子发射率测量方法
[P].
张战刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张战刚
;
罗俊洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗俊洋
;
雷志锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
雷志锋
;
黄云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄云
;
陈资文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈资文
;
彭超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
彭超
;
何玉娟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
何玉娟
;
肖庆中
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
肖庆中
;
李键坷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李键坷
;
路国光
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
路国光
.
中国专利
:CN113484894A
,2021-10-08
[10]
α粒子发射率测量方法
[P].
张战刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
张战刚
;
罗俊洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
罗俊洋
;
雷志锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
雷志锋
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
黄云
;
陈资文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈资文
;
彭超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
彭超
;
何玉娟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
何玉娟
;
肖庆中
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
肖庆中
;
李键坷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
李键坷
;
路国光
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
路国光
.
中国专利
:CN113484894B
,2024-01-05
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