蚀刻方法和等离子体处理装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202480023485.8
申请日
2024-02-29
公开(公告)号
CN120883336A
公开(公告)日
2025-10-31
发明(设计)人
有马仙善 木原嘉英 户村幕树 高桥圭惠
申请人
东京毅力科创株式会社
申请人地址
日本
IPC主分类号
H01L21/3065
IPC分类号
H05H1/46
代理机构
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322
代理人
龙淳
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
蚀刻方法和等离子体处理装置 [P]. 
向山广记 ;
胜沼隆幸 .
日本专利 :CN119301744A ,2025-01-10
[2]
蚀刻方法和等离子体处理装置 [P]. 
向山广记 ;
泽野拓哉 .
日本专利 :CN118263120A ,2024-06-28
[3]
蚀刻方法和等离子体处理装置 [P]. 
高田郁弥 ;
森北信也 ;
及川弘太 ;
新仓菜月 .
日本专利 :CN119968696A ,2025-05-09
[4]
蚀刻方法和等离子体处理装置 [P]. 
铃木圣唯 ;
后平拓 .
日本专利 :CN118335601A ,2024-07-12
[5]
等离子体处理系统、等离子体处理装置以及蚀刻方法 [P]. 
齐藤昴 ;
中根由太 ;
高桥笃史 ;
石川慎也 ;
大内田聪 ;
户村幕树 .
日本专利 :CN117855088A ,2024-04-09
[6]
蚀刻方法及等离子体处理装置 [P]. 
松原棱 ;
泷野裕辅 ;
户村幕树 .
日本专利 :CN119698689A ,2025-03-25
[7]
蚀刻方法和等离子体处理装置 [P]. 
熊仓翔 ;
木村壮一郎 ;
世小弓 ;
小田岛畅洋 ;
真崎祐次 ;
岳本昇 ;
小林真 .
日本专利 :CN119256389A ,2025-01-03
[8]
蚀刻方法和等离子体处理装置 [P]. 
渡部诚一 ;
佐藤学 ;
泽田石真之 ;
山田纮己 ;
织茂慎司 .
中国专利 :CN114944333A ,2022-08-26
[9]
蚀刻方法和等离子体处理装置 [P]. 
岩野光纮 ;
细谷正德 .
中国专利 :CN111819666A ,2020-10-23
[10]
蚀刻方法和等离子体处理装置 [P]. 
佐藤琢磨 ;
吉村正太 ;
森北信也 .
日本专利 :CN117577524A ,2024-02-20