一种基于影像对位检测的集成电路芯片烧录装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202423191781.5
申请日
2024-12-24
公开(公告)号
CN223582470U
公开(公告)日
2025-11-21
发明(设计)人
卿晓征
申请人
无锡芯元微科技有限公司
申请人地址
214000 江苏省无锡市新吴区菱湖大道111-11软件园鲸鱼座C座8层
IPC主分类号
G06F8/61
IPC分类号
代理机构
南京北辰联和知识产权代理有限公司 32350
代理人
王俊
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种具有电压监测机构的集成电路芯片烧录装置 [P]. 
孙龑龑 .
中国专利 :CN223727898U ,2025-12-26
[2]
一种集成电路芯片自动烧录装置 [P]. 
王彬 ;
张昊 .
中国专利 :CN222300042U ,2025-01-03
[3]
一种集成电路芯片烧录定位装置 [P]. 
张昊 ;
李亮 .
中国专利 :CN222337615U ,2025-01-10
[4]
一种集成电路芯片的检测装置 [P]. 
詹安娜 ;
黄巧芳 .
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[5]
一种便于取出的集成电路芯片烧录座 [P]. 
卿晓征 .
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[6]
集成电路芯片的烧录设备 [P]. 
吴美珍 .
中国专利 :CN108987320A ,2018-12-11
[7]
一种集成电路芯片的烧录器 [P]. 
吴美珍 .
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[8]
一种集成电路芯片的烧录器 [P]. 
黄书趸 ;
赵军宁 ;
郭健健 .
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[9]
一种集成电路芯片的外观检测装置 [P]. 
杨敬 .
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[10]
一种集成电路芯片的烧录器 [P]. 
叶钧戊 ;
李明正 ;
胡刚 .
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