一种芯片测试设备的清洁装置及芯片测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422393842.X

申请日：

2024-09-30

公开(公告)号：

CN223543634U

公开(公告)日：

2025-11-14

发明(设计)人：

陈建丛赵山吴永红

申请人：

苏州联讯仪器股份有限公司

申请人地址：

215129 江苏省苏州市苏州高新区湘江路1508号5幢

IPC主分类号：

B08B5/04

IPC分类号：

B08B13/00

代理机构：

北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391

代理人：

赵云秀

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-14	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试座清洁装置及芯片测试设备 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117548429A ,2024-02-13

[2]

芯片测试座清洁装置、清洁装置的清洁头及芯片测试设备 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117548431A ,2024-02-13

[3]

芯片测试座清洁装置、清洁装置的清洁头及芯片测试设备 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117443851A ,2024-01-26

[4]

芯片测试装置及芯片测试设备 [P].

徐银森 ;

罗双武 .

中国专利 :CN215813200U ,2022-02-11

[5]

一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P].

吴永红 ;

黄建军 ;

赵山 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14

[6]

芯片测试转接装置及芯片测试设备 [P].

齐振彬 ;

甘杰 ;

王喆 ;

胡晓波 ;

刘浩 ;

谢旭明 ;

刘辉志 ;

张佩 ;

沙伟燕 .

中国专利 :CN111222182A ,2020-06-02

[7]

芯片测试装置和芯片测试设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN217085181U ,2022-07-29

[8]

芯片测试排线及芯片测试设备 [P].

赵海洋 ;

刘乐 ;

刘伟 ;

王健 ;

孔晓琳 ;

张家华 ;

李安平 .

中国专利 :CN216870739U ,2022-07-01

[9]

芯片测试设备及芯片测试方法 [P].

潘月胜 ;

王梓 ;

霍亮 .

中国专利 :CN117554778A ,2024-02-13

[10]

芯片测试方法及芯片测试设备 [P].

原东明 ;

李亮 ;

申华新 .

中国专利 :CN117590201A ,2024-02-23

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