一种功率模块动态性能测试装置及系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202211534050.9
申请日
2022-12-01
公开(公告)号
CN115947029B
公开(公告)日
2025-11-18
发明(设计)人
王学合 陈绪奇 胡志平
申请人
上海芯华睿半导体科技有限公司
申请人地址
201313 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区宏祥北路83弄1-42号20幢118室
IPC主分类号
B65G15/30
IPC分类号
G01D21/02 B65G47/82 B65G47/52 B65G47/22
代理机构
上海霖睿专利代理事务所(普通合伙) 31391
代理人
陈得宗
法律状态
授权
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
功率模块动态性能测试装置 [P]. 
陈光涛 .
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[2]
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陈材 ;
吕坚玮 ;
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[3]
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[4]
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[5]
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[6]
一种智能功率模块测试装置及测试系统 [P]. 
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[7]
一种智能功率模块测试装置及测试系统 [P]. 
池振华 ;
廖伟强 .
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[8]
智能功率模块测试装置及系统 [P]. 
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[9]
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[10]
功率模块测试装置 [P]. 
陆樨 ;
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陈清麒 ;
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中国专利 :CN108627751B ,2018-10-09