一种面向存内计算宏单元的内建自测试架构、系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511187180.3

申请日：

2025-08-25

公开(公告)号：

CN120673828B

公开(公告)日：

2025-11-18

发明(设计)人：

任文捷叶相君陈沛毓刘影王志轩

申请人：

杭州微纳核芯电子科技有限公司

申请人地址：

311200 浙江省杭州市萧山区宁围街道永晖路233号杭州湾智慧谷大厦

IPC主分类号：

G11C29/44

IPC分类号：

代理机构：

上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291

代理人：

杨楷;毛立群

法律状态：

授权

国省代码：

浙江省杭州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-18	授权	授权
2025-10-10	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/44申请日:20250825
2025-09-19	公开	公开

共 50 条

[1]

一种面向存内计算宏单元的内建自测试架构、系统及方法 [P].

任文捷 ;

叶相君 ;

陈沛毓 ;

刘影 ;

王志轩 .

中国专利 :CN120673828A ,2025-09-19

[2]

一种内建自测试电路、内建自测试方法和存储器 [P].

孙圆圆 ;

王佳 ;

张瑞 .

中国专利 :CN119296623A ,2025-01-10

[3]

存储器的内建自测试系统的测试方法 [P].

王建群 ;

徐成宇 .

中国专利 :CN120164512A ,2025-06-17

[4]

内建自测试方法、装置及片上系统 [P].

冯燕 ;

陈岚 .

中国专利 :CN105988077A ,2016-10-05

[5]

存储器的快速内建自测试系统及方法 [P].

拜福君 ;

熊保玉 .

中国专利 :CN103943152B ,2014-07-23

[6]

一种混合模式的内建自测试系统及其方法 [P].

连光耀 ;

黄考利 ;

葛鹏岳 ;

孙江生 ;

王振生 ;

刘彦宏 ;

吕晓明 ;

王韶光 ;

王凯 ;

张延生 .

中国专利 :CN101881812A ,2010-11-10

[7]

用于闪存的内建自测试电路、系统及方法 [P].

刘峰 ;

张迪宇 .

中国专利 :CN107068196A ,2017-08-18

[8]

一种逻辑内建自测试方法及电路 [P].

张涛洪 ;

伏俊明 ;

全宇 ;

王煜文 .

中国专利 :CN120832281A ,2025-10-24

[9]

通信电路、通信方法、存储单元内建自测试系统 [P].

杨嵩 ;

杨凡 ;

李俊 ;

黄曦 ;

徐可欣 ;

郑朝霞 .

中国专利 :CN115765792B ,2025-06-17

[10]

一种逻辑内建自测试的复位电路测试系统及方法 [P].

谭腾飞 ;

纪璐璐 .

中国专利 :CN114360622A ,2022-04-15

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