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芯片异常的检测方法、装置、电子设备、存储介质及芯片
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410579192.X
申请日
:
2024-05-10
公开(公告)号
:
CN120935345A
公开(公告)日
:
2025-11-11
发明(设计)人
:
闫学昭
申请人
:
北京小米移动软件有限公司
申请人地址
:
100085 北京市海淀区西二旗中路33号院6号楼8层018号
IPC主分类号
:
H04N17/00
IPC分类号
:
代理机构
:
北京法胜知识产权代理有限公司 11922
代理人
:
罗岚
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-11-28
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H04N 17/00申请日:20240510
2025-11-11
公开
公开
共 50 条
[1]
芯片、芯片异常的处理方法、装置、电子设备及存储介质
[P].
唐平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
唐平
.
中国专利
:CN113778731A
,2021-12-10
[2]
异常唤醒的检测方法和装置、电子设备、芯片及存储介质
[P].
雒彩霞
论文数:
0
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0
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0
机构:
展讯通信(上海)有限公司
展讯通信(上海)有限公司
雒彩霞
.
中国专利
:CN118501527A
,2024-08-16
[3]
芯片检测方法、装置、电子设备、芯片和存储介质
[P].
谢蒙
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
北京玄戒技术有限公司
北京玄戒技术有限公司
谢蒙
.
中国专利
:CN121208586A
,2025-12-26
[4]
芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质
[P].
石雪梅
论文数:
0
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0
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0
机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
石雪梅
;
陈波
论文数:
0
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0
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0
机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
陈波
;
赵毅强
论文数:
0
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0
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0
机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
赵毅强
;
何家骥
论文数:
0
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0
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0
机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
何家骥
;
张虹
论文数:
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0
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0
机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
张虹
;
林冰馨
论文数:
0
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0
机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
林冰馨
;
黄周晨
论文数:
0
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0
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0
机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
黄周晨
.
中国专利
:CN118707290A
,2024-09-27
[5]
芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质
[P].
石雪梅
论文数:
0
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0
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
石雪梅
;
陈波
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0
机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
陈波
;
赵毅强
论文数:
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
赵毅强
;
何家骥
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0
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
何家骥
;
张虹
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
张虹
;
林冰馨
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
林冰馨
;
黄周晨
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0
机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
黄周晨
.
中国专利
:CN118707290B
,2025-11-18
[6]
芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质
[P].
周志敏
论文数:
0
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0
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机构:
上海创米数联智能科技发展股份有限公司
上海创米数联智能科技发展股份有限公司
周志敏
;
黄燕青
论文数:
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机构:
上海创米数联智能科技发展股份有限公司
上海创米数联智能科技发展股份有限公司
黄燕青
.
中国专利
:CN120220779A
,2025-06-27
[7]
芯片检测方法、电子设备及存储介质
[P].
请求不公布姓名
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州高视半导体技术有限公司
苏州高视半导体技术有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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0
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机构:
苏州高视半导体技术有限公司
苏州高视半导体技术有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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0
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机构:
苏州高视半导体技术有限公司
苏州高视半导体技术有限公司
请求不公布姓名
.
中国专利
:CN118691611B
,2024-12-17
[8]
芯片检测方法、电子设备及存储介质
[P].
石圣涛
论文数:
0
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机构:
高视科技(苏州)股份有限公司
高视科技(苏州)股份有限公司
石圣涛
;
蒋贵和
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机构:
高视科技(苏州)股份有限公司
高视科技(苏州)股份有限公司
蒋贵和
;
王巧彬
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机构:
高视科技(苏州)股份有限公司
高视科技(苏州)股份有限公司
王巧彬
.
中国专利
:CN112881419B
,2024-01-30
[9]
芯片检测方法、电子设备及存储介质
[P].
石圣涛
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0
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石圣涛
;
蒋贵和
论文数:
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蒋贵和
;
王巧彬
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王巧彬
.
中国专利
:CN112881419A
,2021-06-01
[10]
芯片检测方法、电子设备及存储介质
[P].
请求不公布姓名
论文数:
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机构:
苏州高视半导体技术有限公司
苏州高视半导体技术有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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0
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机构:
苏州高视半导体技术有限公司
苏州高视半导体技术有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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0
机构:
苏州高视半导体技术有限公司
苏州高视半导体技术有限公司
请求不公布姓名
.
中国专利
:CN118691611A
,2024-09-24
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