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测试用例选择方法、电子设备、存储介质及程序产品

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511519845.6
申请日：
2025-10-23
公开(公告)号：
CN120994484A
公开(公告)日：
2025-11-21
发明(设计)人：
孙明刚 刘涛
申请人：
苏州元脑智能科技有限公司
申请人地址：
215000 江苏省苏州市吴中经济开发区综保区经一路1号8幢
IPC主分类号：
G06F11/22
IPC分类号：
G06F11/263
代理机构：
北京开阳星知识产权代理有限公司 11710
代理人：
张换换
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-12-09 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20251023
2025-11-21 公开 公开
共 50 条
[1]
测试用例执行方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
杨茁 ;
都雯卿 .
中国专利 :CN120723656A ,2025-09-30
[2]
测试用例的执行方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
孟祥坤 .
中国专利 :CN120086147A ,2025-06-03
[3]
测试用例库维护方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
陈昌永 .
中国专利 :CN118035114A ,2024-05-14
[4]
测试用例生成方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
董孟辉 .
中国专利 :CN117555789A ,2024-02-13
[5]
测试用例生成方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
艾敏 ;
蔡美薇 .
中国专利 :CN120610896A ,2025-09-09
[6]
测试用例分析方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
彭涛 ;
魏乾 .
中国专利 :CN120123236A ,2025-06-10
[7]
测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
胡欣欣 ;
刘杭 ;
侯雪莹 ;
李文山 ;
李素莹 ;
潘沛雄 ;
张嘉杰 .
中国专利 :CN120407393A ,2025-08-01
[8]
测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
刘玉 ;
陈舒翔 .
中国专利 :CN120144454A ,2025-06-13
[9]
测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
刘玉 ;
陈舒翔 .
中国专利 :CN120144454B ,2025-12-16
[10]
测试用例生成方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
刘涛 ;
石紫珊 ;
雷雪春 ;
唐炫韬 ;
王洛槐 ;
黄俊 ;
张晓生 .
中国专利 :CN121116807A ,2025-12-12
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