粒径分布测量装置及粒径分布测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202080080007.2

申请日：

2020-11-09

公开(公告)号：

CN114729866B

公开(公告)日：

2025-11-18

发明(设计)人：

山口哲司森哲也名仓诚

申请人：

株式会社堀场制作所

申请人地址：

日本京都府

IPC主分类号：

G01N15/0205

IPC分类号：

G01N21/49 G01N21/03

代理机构：

北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290

代理人：

李成必;李雪春

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-18	授权	授权

共 50 条

[1]

粒径分布测量装置及粒径分布测量方法 [P].

山口哲司 ;

森哲也 ;

名仓诚 .

中国专利 :CN114729866A ,2022-07-08

[2]

粒径分布测量装置及粒径分布测量方法 [P].

栩野成视 ;

澤弘义 .

中国专利 :CN103257096A ,2013-08-21

[3]

稀释机构、粒径分布测量系统、粒径分布测量方法和粒径分布测量用程序 [P].

樱本启二郎 ;

森哲也 ;

土生一德 .

日本专利 :CN118647850A ,2024-09-13

[4]

水滴粒径分布测量装置 [P].

王岩峰 ;

官晟 ;

孙培光 ;

曹瑞雪 ;

兰举生 .

中国专利 :CN2826405Y ,2006-10-11

[5]

粒径测量装置与粒径测量方法 [P].

岩井俊昭 .

中国专利 :CN103069265A ,2013-04-24

[6]

气溶胶粒径分布测量装置 [P].

鲁海杰 ;

袁鹰 .

中国专利 :CN222599459U ,2025-03-11

[7]

一种γ核素的粒径分布测量方法 [P].

蒋振宇 ;

熊军 ;

许波涛 ;

尹淑华 ;

王瑞俊 ;

宋庆楠 .

中国专利 :CN117848911A ,2024-04-09

[8]

试样导入装置和粒径分布测量装置 [P].

金马崇 ;

片西章浩 .

中国专利 :CN106168569A ,2016-11-30

[9]

一种基于雾化芯的粒径分布的测量方法和测量装置 [P].

刘建平 ;

王腾飞 ;

张晗芬 ;

王成 ;

刘昊洋 ;

朱银 ;

王威 .

中国专利 :CN113252519A ,2021-08-13

[10]

一种结晶过程晶体粒径分布测量方法 [P].

田昌 ;

苏明旭 .

中国专利 :CN114544444A ,2022-05-27

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