一种应力测量方法及应力测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211030653.5

申请日：

2022-08-26

公开(公告)号：

CN115265867B

公开(公告)日：

2025-10-17

发明(设计)人：

杨新荣朱少军岳嵚岳超瑜

申请人：

常州莱特康光电科技有限公司

申请人地址：

213000 江苏省常州市武进区西太湖科技产业园兰香路11号

IPC主分类号：

G01L1/24

IPC分类号：

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

翁唱玲

法律状态：

授权

国省代码：

安徽省安庆市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-17	授权	授权

共 50 条

[1]

应力测量装置和应力测量方法 [P].

安峰辰 ;

何嘉玫 ;

李思 ;

李刚 ;

唐宇恒 .

中国专利 :CN117571170A ,2024-02-20

[2]

一种应力测量方法及应力测量光路装置 [P].

何军 .

中国专利 :CN110954253A ,2020-04-03

[3]

一种应力测量装置及测量方法 [P].

邓敏 ;

王卫彪 ;

莫立武 ;

徐玲玲 ;

刘猛 ;

黄晓军 ;

兰祥辉 ;

黄蓓 .

中国专利 :CN107607238A ,2018-01-19

[4]

应力测量结构与应力测量方法 [P].

林郁祥 ;

高靖尧 ;

董恩凯 .

中国专利 :CN115326244A ,2022-11-11

[5]

应力测量方法 [P].

王志勇 ;

李梓璇 ;

杨思源 ;

王世斌 ;

李林安 ;

李传崴 .

中国专利 :CN121089951A ,2025-12-09

[6]

应力测量方法 [P].

刘小俊 ;

徐新建 ;

吴方 ;

谢玲 .

中国专利 :CN115810552B ,2025-11-18

[7]

一种薄板应力测量方法及薄板应力测量系统 [P].

袁懋诞 ;

禤伟明 ;

纪轩荣 ;

陈燕 .

中国专利 :CN110243521A ,2019-09-17

[8]

一种晶片应力测量装置及测量方法 [P].

李成敏 ;

刘健鹏 ;

严冬 ;

叶龙茂 ;

谌雅琴 ;

王林梓 ;

焦宏达 .

中国专利 :CN103985652A ,2014-08-13

[9]

膜层应力测量装置及测量方法 [P].

杨稳华 .

中国专利 :CN112525395A ,2021-03-19

[10]

一种应力测量方法 [P].

伍衡 ;

韦晓星 ;

熊纽 ;

彭翔 ;

张晋寅 ;

李青 .

中国专利 :CN114993519A ,2022-09-02

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