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自动光学检测设备

被引：0
专利类型：
外观设计
申请号：
CN202530117218.4
申请日：
2025-03-12
公开(公告)号：
CN309594188S
公开(公告)日：
2025-11-11
发明(设计)人：
张仁勇 康振 张志勇 陈伟康 苑浩
申请人：
华恒半导体设备（苏州）有限公司
申请人地址：
215200 江苏省苏州市吴江区江陵街道长安路东侧云创路99号6楼
IPC主分类号：
10-05
IPC分类号：
代理机构：
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人：
张海英
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-11-11 授权 授权
共 50 条
[1]
自动光学检测设备 [P]. 
谢钰峰 ;
钱澄 ;
张亚坤 .
中国专利 :CN305668830S ,2020-03-31
[2]
自动光学检测设备 [P]. 
苏超 ;
张凯瑞 ;
苏榆淇 ;
王腾飞 ;
刘冬冬 .
中国专利 :CN308776057S ,2024-08-09
[3]
自动光学检测设备 [P]. 
蒋天佐 .
中国专利 :CN309035023S ,2024-12-27
[4]
自动光学检测设备 [P]. 
庞维健 .
中国专利 :CN307548614S ,2022-09-16
[5]
自动光学检测设备 [P]. 
郭灿年 ;
张华明 ;
朱朝军 ;
吴巧明 .
中国专利 :CN308498700S ,2024-03-08
[6]
自动光学检测设备 [P]. 
钟士良 .
中国专利 :CN305937678S ,2020-07-24
[7]
自动光学检测设备（双轨） [P]. 
董文斌 .
中国专利 :CN307178818S ,2022-03-18
[8]
自动光学检测设备（AOI） [P]. 
魏余红 ;
黄燕荣 .
中国专利 :CN305013991S ,2019-01-25
[9]
自动光学检测设备外壳 [P]. 
马孟雨 ;
常卓越 ;
张成林 .
中国专利 :CN307253641S ,2022-04-12
[10]
自动光学检测设备（离线） [P]. 
董文斌 .
中国专利 :CN307300628S ,2022-04-29
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