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半导体结构的测量方法及系统、电子设备、存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410479856.5
申请日：
2024-04-19
公开(公告)号：
CN120831049A
公开(公告)日：
2025-10-24
发明(设计)人：
王思聪 王璠 于洪浩 郎陆广 金国秀 蒙艺玮 陈科
申请人：
长江存储科技有限责任公司
申请人地址：
430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
IPC主分类号：
G01B11/00
IPC分类号：
G06F18/15 G06F18/241 G06N3/0464
代理机构：
北京英思普睿知识产权代理有限公司 16018
代理人：
刘莹;聂国斌
法律状态：
公开
国省代码：
河北省 石家庄市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-10-24 公开 公开
2025-11-11 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/00申请日:20240419
共 50 条
[1]
半导体结构的测量方法、系统、介质和电子设备 [P]. 
黄鑫 ;
王士欣 .
中国专利 :CN113035735B ,2021-06-25
[2]
延时测量方法及系统、电子设备、存储介质、程序产品 [P]. 
杨力林 ;
张本好 ;
袁逸钊 ;
蒋坤君 ;
汪镇波 ;
郑翰辰 ;
赖辉龙 ;
石文凤 ;
蔡俊杰 .
中国专利 :CN119165964B ,2025-06-24
[3]
延时测量方法及系统、电子设备、存储介质、程序产品 [P]. 
杨力林 ;
张本好 ;
袁逸钊 ;
蒋坤君 ;
汪镇波 ;
郑翰辰 ;
赖辉龙 ;
石文凤 ;
蔡俊杰 .
中国专利 :CN119165964A ,2024-12-20
[4]
距离测量方法、电子设备及存储介质 [P]. 
潘武 ;
杨增启 ;
隋小波 ;
吴惠敏 .
中国专利 :CN114838702A ,2022-08-02
[5]
距离测量方法、电子设备及存储介质 [P]. 
潘武 ;
杨增启 ;
隋小波 ;
吴惠敏 .
中国专利 :CN114838702B ,2024-08-09
[6]
半导体结构的测量方法及测量系统 [P]. 
李宗翰 ;
刘志拯 .
中国专利 :CN115588622A ,2023-01-10
[7]
半导体结构的测量方法及测量系统 [P]. 
李宗翰 ;
刘志拯 .
中国专利 :CN115588622B ,2025-06-20
[8]
性能测量方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
齐文 ;
王恒 ;
夏旭 ;
赵嵩 .
中国专利 :CN120343609A ,2025-07-18
[9]
半导体结构的量测方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
刘凌海 .
中国专利 :CN115020382A ,2022-09-06
[10]
网络质量测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
李诚 .
中国专利 :CN114666243A ,2022-06-24
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