一种用于结构光参数标定的激光光斑阵列检测方法及系统

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专利类型
发明
申请号
CN202411275595.1
申请日
2024-09-12
公开(公告)号
CN119152032B
公开(公告)日
2025-11-21
发明(设计)人
孟偲 姜宇博
申请人
北京航空航天大学
申请人地址
100191 北京市海淀区学院路37号
IPC主分类号
G06T7/73
IPC分类号
G06T7/80 G06T5/80 G06T5/30 G06T7/136
代理机构
北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465
代理人
万晶晶
法律状态
实质审查的生效
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
一种用于结构光参数标定的激光光斑阵列检测方法及系统 [P]. 
孟偲 ;
姜宇博 .
中国专利 :CN119152032A ,2024-12-17
[2]
一种激光阵列中激光光斑偏移检测方法、系统及相关设备 [P]. 
陈乃奇 ;
胡学艳 .
中国专利 :CN114235351A ,2022-03-25
[3]
一种激光阵列中激光光斑偏移检测方法、系统及相关设备 [P]. 
陈乃奇 ;
胡学艳 .
中国专利 :CN114216417A ,2022-03-22
[4]
一种激光光斑检测方法及系统 [P]. 
景文博 ;
于洪洋 ;
董猛 ;
赵海丽 ;
刘鹏 ;
王彩霞 ;
王晓曼 .
中国专利 :CN109064508A ,2018-12-21
[5]
一种线激光光斑的检测方法及系统 [P]. 
王品 ;
湛意 ;
倪麒 ;
涂再买 ;
何英 ;
赖文峰 .
中国专利 :CN118134916A ,2024-06-04
[6]
一种线激光光斑的检测方法及系统 [P]. 
王品 ;
湛意 ;
倪麒 ;
涂再买 ;
何英 ;
赖文峰 .
中国专利 :CN118134916B ,2024-07-26
[7]
一种激光光斑检测系统及方法 [P]. 
姚文朝 ;
杨远红 ;
姚文政 .
中国专利 :CN114413772A ,2022-04-29
[8]
用于结构光测量的激光光斑阵列的图像检测与排序方法、设备及介质 [P]. 
孟偲 ;
姜宇博 .
中国专利 :CN119022821A ,2024-11-26
[9]
一种光声检测系统及激光光斑校准方法 [P]. 
马砚忠 ;
崔舒涵 ;
陈鲁 .
中国专利 :CN120403462B ,2025-11-04
[10]
一种光声检测系统及激光光斑校准方法 [P]. 
马砚忠 ;
崔舒涵 ;
陈鲁 .
中国专利 :CN121163388A ,2025-12-19