材料测量方法、装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202511293630.7
申请日
2025-09-11
公开(公告)号
CN120809025B
公开(公告)日
2025-11-21
发明(设计)人
请求不公布姓名 请求不公布姓名 请求不公布姓名 请求不公布姓名 请求不公布姓名 请求不公布姓名
申请人
深圳市埃芯半导体科技有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市龙华区观澜街道库坑社区库坑观光路1310号101
IPC主分类号
G16C60/00
IPC分类号
G01N9/24 G01B15/02 G01B15/08
代理机构
深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414
代理人
张禹
法律状态
实质审查的生效
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
材料测量方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN120809025A ,2025-10-17
[2]
测量方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
李玉 ;
张梦雷 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
汪波 ;
郝帅 .
中国专利 :CN119147428A ,2024-12-17
[3]
测量方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
李玉 ;
张梦雷 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
汪波 ;
郝帅 .
中国专利 :CN119147428B ,2025-02-25
[4]
测量方法、装置、电子设备、测量设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN120741541B ,2025-11-21
[5]
测量方法、装置、电子设备、测量设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN120741541A ,2025-10-03
[6]
测量方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王江峰 ;
勒系遥 ;
郑超 ;
陈尚俭 ;
郑俊 .
中国专利 :CN119845179A ,2025-04-18
[7]
测量方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王楠 ;
郭玉京 ;
张迪 ;
李佳桦 .
中国专利 :CN110926334A ,2020-03-27
[8]
测量方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘钰菡 .
中国专利 :CN118632282A ,2024-09-10
[9]
测量方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王江峰 ;
勒系遥 ;
郑超 ;
陈尚俭 ;
郑俊 .
中国专利 :CN119845179B ,2025-11-07
[10]
测量方法、电子设备及存储介质 [P]. 
于赛 ;
王伟东 ;
任义 .
中国专利 :CN120427611A ,2025-08-05