物理量检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202180073879.0

申请日：

2021-09-08

公开(公告)号：

CN116391112B

公开(公告)日：

2025-10-28

发明(设计)人：

五来信章上之段晓齐藤直生三木崇裕

申请人：

日立安斯泰莫株式会社

申请人地址：

日本茨城县

IPC主分类号：

G01F1/684

IPC分类号：

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

龙淳

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-28	授权	授权

共 50 条

[1]

物理量检测装置 [P].

余语孝之 ;

法丁法哈那·宾提哈里旦 ;

上之段晓 ;

德安升 ;

三木崇裕 ;

星加浩昭 .

中国专利 :CN112236652A ,2021-01-15

[2]

物理量检测装置 [P].

三木崇裕 ;

星加浩昭 ;

余语孝之 ;

细川丈夫 ;

斋藤直生 .

中国专利 :CN108139246B ,2018-06-08

[3]

物理量检测装置 [P].

余语孝之 ;

阿部博幸 ;

星加浩昭 ;

三木崇裕 .

中国专利 :CN108027266A ,2018-05-11

[4]

物理量检测装置 [P].

法丁法哈那·宾提哈里旦 ;

余语孝之 ;

德安升 ;

上之段晓 ;

三木崇裕 ;

星加浩昭 .

中国专利 :CN112136024A ,2020-12-25

[5]

物理量检测装置 [P].

三木崇裕 ;

星加浩昭 ;

余语孝之 ;

山本卓央 .

中国专利 :CN107003164A ,2017-08-01

[6]

物理量检测装置 [P].

矶谷有毅 ;

星加浩昭 ;

余语孝之 .

中国专利 :CN111512123A ,2020-08-07

[7]

物理量检测装置 [P].

上之段晓 ;

野田智史 ;

斋藤直生 ;

中村昌道 ;

三木崇裕 ;

五来信章 ;

石川贵之 .

日本专利 :CN113597538B ,2024-03-19

[8]

物理量检测装置 [P].

上之段晓 ;

野田智史 ;

斋藤直生 ;

中村昌道 ;

三木崇裕 ;

五来信章 ;

石川贵之 .

中国专利 :CN113597538A ,2021-11-02

[9]

物理量检测装置 [P].

余语孝之 ;

法丁法哈那·宾提哈里旦 ;

上之段晓 ;

德安升 ;

三木崇裕 ;

星加浩昭 .

日本专利 :CN112236652B ,2024-08-23

[10]

物理量检测装置 [P].

齐藤友明 ;

上之段晓 ;

五来信章 .

中国专利 :CN114729829A ,2022-07-08

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