試料を分析するためのシステムおよび方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20250522482

申请日：

2023-10-20

公开(公告)号：

JP2025536319A

公开(公告)日：

2025-11-05

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

H01J49/04

IPC分类号：

G01N27/62

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法律状态信息

共 50 条

[1]

試験接点構成体を修理するための機器、システム、および方法[ja] [P].

日本专利 :JP2024536711A ,2024-10-08

[2]

振戦の影響を制御するためのシステムおよび方法[ja] [P].

日本专利 :JP2020533041A ,2020-11-19

[3]

振戦の影響を制御するためのシステムおよび方法[ja] [P].

日本专利 :JP2023072005A ,2023-05-23

[4]

材料を粉砕するための粉砕機システムおよび方法[ja] [P].

日本专利 :JP2021531970A ,2021-11-25

[5]

試料の取扱いおよび試料の熱力学分析を実行するための試料キャリア、試料貯槽、リフトフォークおよび関連するシステム[ja] [P].

URS JOERIMANN ;

SAMUEL KELLER ;

JONAS LANGENEGGER ;

MICHAEL REBER ;

FABIAN SCHNEIDER ;

URS WUEST ;

GIAN HUBER .

日本专利 :JP2024137800A ,2024-10-07

[6]

物質の力学的特性を評価するためのシステムおよび方法[ja] [P].

日本专利 :JP2018507023A ,2018-03-15

[7]

基板の電気的特性を測定するための、方法、装置およびシステム[ja] [P].

日本专利 :JP2018508768A ,2018-03-29

[8]

皮下検知のための方法およびシステム[ja] [P].

日本专利 :JP2019526332A ,2019-09-19

[9]

血圧を制御するためのシステム及び方法[ja] [P].

SHAHRAM MOADDEB ;

FAIZAL ABDEEN ;

RINDA SAMA .

日本专利 :JP2024029043A ,2024-03-05

[10]

血圧を制御するためのシステム及び方法[ja] [P].

日本专利 :JP2021514742A ,2021-06-17

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