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智能抛光垫缺陷检测仪

被引：0
专利类型：
外观设计
申请号：
CN202530103423.5
申请日：
2025-03-06
公开(公告)号：
CN309611086S
公开(公告)日：
2025-11-18
发明(设计)人：
曹晓东
申请人：
中国科学院半导体研究所
申请人地址：
100083 北京市海淀区清华东路甲35号
IPC主分类号：
10-05
IPC分类号：
代理机构：
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人：
吴梦圆
法律状态：
授权
国省代码：
北京市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-11-18 授权 授权
共 50 条
[1]
面料缺陷智能检测仪 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN309063193S ,2025-01-10
[2]
面料缺陷智能检测仪 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN309063191S ,2025-01-10
[3]
面料缺陷智能检测仪 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN309601890S ,2025-11-14
[4]
面料缺陷智能检测仪 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN308663035S ,2024-05-31
[5]
缺陷检测仪（1） [P]. 
王麒宇 ;
邢祥瑞 ;
俞伟洋 .
中国专利 :CN308545481S ,2024-03-29
[6]
线缆缺陷检测仪 [P]. 
韩睿 ;
张力 ;
徐峰 ;
李华栋 ;
张立群 .
中国专利 :CN307400962S ,2022-06-14
[7]
缺陷检测仪（2） [P]. 
王麒宇 ;
刘鹏举 ;
俞伟洋 .
中国专利 :CN308545482S ,2024-03-29
[8]
微缺陷检测仪 [P]. 
王健 .
中国专利 :CN306869517S ,2021-10-08
[9]
软板（FPC）缺陷检测仪 [P]. 
张方德 ;
邵和兴 .
中国专利 :CN303895200S ,2016-10-19
[10]
智能检测仪（透镜外观缺陷） [P]. 
王麒宇 ;
候金锦 ;
张自强 ;
邢祥瑞 ;
葛本育 ;
俞伟洋 .
中国专利 :CN308981252S ,2024-12-03
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