三维形貌量测系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422315981.0

申请日：

2024-09-23

公开(公告)号：

CN223449186U

公开(公告)日：

2025-10-17

发明(设计)人：

蔡景昭黄文彦林高辉

申请人：

扬明光学股份有限公司

申请人地址：

中国台湾新竹市科学园区新安路7号

IPC主分类号：

G01B11/25

IPC分类号：

代理机构：

上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218

代理人：

翟羽

法律状态：

授权

国省代码：

安徽省滁州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-17	授权	授权

共 50 条

[1]

物体表面三维形貌量测方法和系统 [P].

宋新岳 ;

田立芬 .

中国专利 :CN1508514A ,2004-06-30

[2]

同步色相相移转换方法以及其三维形貌量测系统 [P].

陈亮嘉 ;

许耀升 .

中国专利 :CN101871773B ,2010-10-27

[3]

结合三维及二维形貌的量测方法及装置 [P].

张柏毅 ;

张乐融 ;

蓝于滢 ;

陈俊贤 .

中国专利 :CN104677307A ,2015-06-03

[4]

牙模三维量测系统及方法 [P].

郑顺义 ;

周郎明 ;

徐轩 ;

黄荣永 ;

李清 ;

乐凯 .

中国专利 :CN101785711B ,2010-07-28

[5]

三维形貌测量装置 [P].

余良彬 ;

王湧锋 ;

陈俊玓 .

中国专利 :CN112747686B ,2021-05-04

[6]

三维形貌检测装置 [P].

王伟诚 ;

郭世炫 ;

陈金亮 .

中国专利 :CN101750027B ,2010-06-23

[7]

三维形貌检测方法 [P].

朴喜载 ;

安祐正 .

中国专利 :CN102428344A ,2012-04-25

[8]

双光源基板图像三维信息量测系统及方法 [P].

邹嘉骏 ;

林伯聪 ;

黄冠勋 ;

张勋豪 .

中国专利 :CN120232855A ,2025-07-01

[9]

微观几何形貌量测系统 [P].

李嘉宜 ;

洪绍刚 .

中国专利 :CN104344791A ,2015-02-11

[10]

任意表面三维形貌测量系统 [P].

马少鹏 ;

刘程林 ;

马沁巍 ;

曾祥福 .

中国专利 :CN102538708A ,2012-07-04

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