一种大电流集成电路芯片的测试夹具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422914133.1

申请日：

2024-11-28

公开(公告)号：

CN223565739U

公开(公告)日：

2025-11-18

发明(设计)人：

陈行

申请人：

深圳市高石半导体科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区新安街道海滨社区N23区海天路15-3号卓越宝中时代广场二期C栋1106

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

代理机构：

深圳市正德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44548

代理人：

代彩玲

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-18	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路芯片的测试夹具 [P].

卢楠 .

中国专利 :CN207148155U ,2018-03-27

[2]

一种集成电路芯片测试夹具 [P].

王玲 .

中国专利 :CN216956259U ,2022-07-12

[3]

一种集成电路芯片测试机 [P].

柯武生 ;

翁国权 ;

王汉波 ;

郭军 .

中国专利 :CN215641679U ,2022-01-25

[4]

一种集成电路高电压大电流测试装置 [P].

周学志 ;

谢清冬 .

中国专利 :CN206960511U ,2018-02-02

[5]

一种集成电路芯片夹具 [P].

邱素冰 .

中国专利 :CN218427860U ,2023-02-03

[6]

集成电路高压大电流测试装置 [P].

钟锋浩 ;

韩笑 ;

叶键波 ;

王维 .

中国专利 :CN202563051U ,2012-11-28

[7]

一种集成电路测试夹具 [P].

徐子昆 .

中国专利 :CN204903576U ,2015-12-23

[8]

一种集成电路高压大电流测试装置 [P].

彭志强 .

中国专利 :CN215866822U ,2022-02-18

[9]

一种集成电路芯片测试用夹具 [P].

程黎明 ;

李明铭 .

中国专利 :CN209280866U ,2019-08-20

[10]

一种低压固定大电流的恒流集成电路芯片 [P].

宋志华 .

中国专利 :CN113421857A ,2021-09-21

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